Temat: X-ray diffraction topography

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Improving heat aging and mechanical properties of fluoroelastomer using carbon nanotubes
Autorzy:: Heidarian, J.
Hassan, A.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: fluoroelastomers
crystallization
tension test
X-ray diffraction topography
aging; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Improving heat aging and mechanical properties of fluoroelastomer using carbon nanotubes
Autorzy:: Heidarian, J.
Hassan, A.
Data publikacji:: 2017
Wydawca:: Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie. Wydawnictwo Uczelniane ZUT w Szczecinie
Tematy:: fluoroelastomers
crystallization
tension test
X-ray diffraction topography
aging; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-ray diffraction topography
Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Autorzy:: Wierzchowski, W.
Malinowska, A.
Wieteska, K.
Wierzbicka, E.
Mazur, K.
Lefeld-Sosnowska, M.
Świrkowicz, M.
Łukasiewicz, T.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:: X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method
dyfrakcyjna topografia rentgenowska
defekty sieci krystalicznej
metoda Czochralskiego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:: Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna
metoda Czochralskiego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Czochralski method
MgAl2O4
crystal lattice defects
ScAlMgO4
topografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-ray diffraction topography
Autorzy:: Wierzchowski, W.
Malinowska, A.
Wieteska, K.
Wierzbicka, E.
Mazur, K.
Lefeld-Sosnowska, M.
Świrkowicz, M.
Łukasiewicz, T.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method
dyfrakcyjna topografia rentgenowska
defekty sieci krystalicznej
metoda Czochralskiego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Autorzy:: Wierzbicka, E.
Malinowska, A.
Wierzchowski, W.
Kisielewski, J.
Świrkowicz, M.
Szyrski, W.
Romaniec, M.
Mazur, K.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: topografia rentgenowska
MgAl2O4
ScAlMgO4
defekty krystaliczne
metoda Czochralskiego
X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl₂O₄ i ScAlMgO₄ otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl₂O₄ and ScAlMgO₄ crystals grown under different technological conditions
Autorzy:: Wierzbicka, E.
Malinowska, A.
Wierzchowski, W.
Kisielewski, J.
Świrkowicz, M.
Szyrski, W.
Romaniec, M.
Mazur, K.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:: topografia rentgenowska
MgAl2O4
ScAlMgO4
defekty krystaliczne
metoda Czochralskiego
X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1988 nr 2(62)
Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem = The investigation of structural defects in the heavily Nd - doped YAG crystals by means of \\x-ray diffraction topography
Badania metodami rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej defektów strukturalnych monokryształów Y2Al5O12 silnie domieszkowanych neodymem
Autorzy:: Mazur Krystyna
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:: 1988
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Elektronika - czasopismo - materiały
structural defect
dyfrakcyjan topografia rentgenowska
defekt strukturalny
Materiały elektroniczne
Electronic materials
Nd:YAG
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Prace ITME 1984 z. 11
Odwzorowywanie dyslokacji w krzemowych warstwach epitaksjalnych metodami odbiciowymi rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej = The images of dislocations in silocon epitaxial layers obtained with help of X-ray diffraction topographic methods
Proceedings of ITME 1984 z. 11
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
rentgenowska topografia dyfrakcyjna
Si epitaxial layer
Electronic materials
dyslokacja
dislocation
krzemowa kwarstwa epitaksjalna
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "X-ray diffraction topography" wg kryterium: Temat