Temat: microelectronics - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Growth of pentacene films investigated by LEEM and STM
Autorzy:: Sadowski, J. T.
Al-Mahboob, A.
Nishihara, T.
Fujikawa, Y.
Thayer, G. E.
Tromp, R. M.
Sakurai, T.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Characterization of SOI fabrication process using gated-diode measurements and TEM studies
Autorzy:: Gibki, J.
Kątcki, J.
Ratajczak, J.
Łukasik, L.
Jakubowski, A.
Tomaszewski, D.
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: microelectronics
SOI technology
characterization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Elektronomikroskopowe badania nanostrukturalnychj warstw na bazie fullerenu i palladu
Autorzy:: Kozłowski, M.
Dłużewski, P.
Czerwosz, E.
Nietubyć, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
warstwy nanostrukturalne
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Characterization of SOI fabrication process using gated-diode measurements and TEM studies
Autorzy:: Gibki, J.
Kątcki, J.
Ratajczak, J.
Łukasik, L.
Jakubowski, A.
Tomaszewski, D.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: microelectronics
SOI technology
characterization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Direct extraction techniques of microwave small-signal model and technological parameters for sub-quarter micron SOI MOSFETs
Autorzy:: Goffioul, M.
Vanhoenacker, D.
Raskin, J.P.
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: microelectronics
microwave devices
SOI MOSFET; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Comparison of microwave performances for sub-quarter micron fully- and partially-depleted SOI MOSFETs
Autorzy:: Goffioul, M.
Dambrine, G.
Vanhoenacker, D.
Raskin, J.P.
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: microelectronics
microwave devices
SOI MOSFET; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Comparison of microwave performances for sub-quarter micron fully- and partially-depleted SOI MOSFETs
Autorzy:: Goffioul, M.
Dambrine, G.
Vanhoenacker, D.
Raskin, J.P.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: microelectronics
microwave devices
SOI MOSFET; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Direct extraction techniques of microwave small-signal model and technological parameters for sub-quarter micron SOI MOSFETs
Autorzy:: Goffioul, M.
Vanhoenacker, D.
Raskin, J.P.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: microelectronics
microwave devices
SOI MOSFET; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Elektronika dzisiaj i jutro
Autorzy:: Kos, A.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: elektronika
mikroelektronika
nanoelektronika
electronics
microelectronics
nanoelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Nanomesstechnik – Nanomessmaschinen
Autorzy:: Jager, G.
Manske, E.
Hausotte, T.
Buchner, H.-J.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: nanotechnologia
mikroelektronika
mikrotechnika
nanotechnology
microelectronics
microtechnics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Wpływ najnowszych osiągnięć mikroelektroniki oraz nanotechnologii na bezpieczeństwo procesów przemysłowych
The influence of recent microelectronics and nanotechnology research for industrial processes safety
Autorzy:: Nowrot, A.
Joostberens, J.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Politechnika Śląska. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Tematy:: nanotechnologia
czujniki
mikroelektronika
nanotechnology
sensors
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Wpływ najnowszych osiągnięć mikroelektroniki oraz nanotechnologii na bezpieczeństwo procesów przemysłowych
Autorzy:: Nowrot, A.
Joostberens, J.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: nanotechnologia
czujniki
mikroelektronika
nanotechnology
sensors
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Application of plasma in microelectronics
Autorzy:: Szmidt J.
Werbowy A.
Tematy:: layer etching
application
plasma
microelectronics
plasma technique; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
Autorzy:: Błąd, G.
Wałach, T.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: termografia
mikroelektronika
niepewność
infrared thermography
microelectronics
uncertainty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
Spectral Range of IR Camera for Research in Microelectronics
Autorzy:: Błąd, G.
Wałach, T.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: termografia
mikroelektronika
niepewność
infrared thermography
microelectronics
uncertainty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Zastosowanie termowizji w badaniach nieniszczących i w mikroelektronice
Autorzy:: Więcek, B.
Lis, M.
Zwolenik, S.
Danych, R.
Wajman, T.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: termowizja
badania nieniszczące
mikroelektronika
nondestructive testing
thermography
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki
Autorzy:: Jakubowski, A.
Łukasiak, L.
Szczepański, P.
Beck, R.
Galwas, B.
Kuźmicz, W.
Malinowski, M.
Szmidt, J.
Woźnicki, J.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
optoelektronika
fotonika
mikrosystemy
microelectronics
optoelectronics
photonics
microsystems; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Miniaturisation : enabling technology for the new millennium
Autorzy:: Razeghi, M.
Mohseni, H.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: microelectronics
nanoelectronics
type II superlattices
QWIP
quantum dots; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Design and simulation of integrated vibration and acceleration sensors
Autorzy:: Szaniawski, K.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: czujnik
wibracja
mikroelektronika
akcelerometr
sensor
vibration
accelerometer
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Zastosowanie termowizji w badaniach nieniszczących i w mikroelektronice
Application of Thermography in Non Destructive Testing and microelectronics
Autorzy:: Więcek, B. [et al.]
Data publikacji:: 2002
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: termowizja
badania nieniszczące
mikroelektronika
nondestructive testing
thermography
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:: Mikrourządzenia w makroświecie
Autorzy:: Sulima, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: miniaturyzacja
mikroelektronika
elektronika
historia
miniaturization
microelectronics
electronics
history; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:: Mikroelektronika : materiały i przyrządy
Autorzy:: Jakubowski, A.
Łukasiak, L.
Szmidt, J.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
krzem
SOI
SiGe
SiC
GaN
microelectronics
silicon; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Model for forecasting good yield of microcircuit chips by results of test control
Autorzy:: Belous, A.
Emelyanov, A.
Syakersky, V.
Chyhir, R.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
jakość produkcji
obwód scalony
microelectronics
microcircuit chip; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:: Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures
Autorzy:: Arsoba, R.
Suszyński, Z.
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: Uniwersytet Przyrodniczo-Humanistyczny w Siedlcach
Tematy:: genetic algorithm
inverse problem
microelectronics
thermal properties
layered structure; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:: Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures
Autorzy:: Arsoba, R.
Suszyński, Z.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: genetic algorithm
inverse problem
microelectronics
thermal properties
layered structure; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "microelectronics" wg kryterium: Temat