Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "microscope imaging" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-10 z 10
    Tytuł:
    Atomic force microscope data post-processing algorithm for higher harmonics imaging
    Algorytm przetwarzania danych rejestrowanych za pomoca mikroskopu sił atomowych
    Autorzy:
    Babicz, S.
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
    Tematy:
    atomic force microscope
    harmonics
    imaging
    algorithm
    mikroskop sił atomowych
    harmoniczne
    obrazowanie
    algorytm
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Rapid capture and exemplary detection of clinical pathogen using surface modified fluorescent silica coated iron oxide nanoparticles
    Autorzy:
    Chitra, K.
    Annadurai, G.
    Data publikacji:
    2014
    Słowa kluczowe:
    bio-imaging
    FITC
    E.coli bacteria
    fluorescence microscope
    scanning electron microscope
    transmission electron microscope
    bioobrazowanie
    bakteria E. coli
    mikroskop fluorescencyjny
    elektronowy mikroskop skaningowy
    transmisyjna mikroskopia elektronowa
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Imaging system using higher-harmonic in the tapping mode of the ”Terra AFM” microscope
    System obrazowania wykorzystujący wyższe harmoniczne w trybie kontaktu przerywanego mikroskopu „Terra AFM”
    Autorzy:
    Pawłowski, S.
    Dobiński, G.
    Smolny, M.
    Majcher, A.
    Mrozek, M.
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
    Tematy:
    atomic force microscope
    tapping mode
    synchronous detection
    phase imaging
    mikroskop sił atomowych
    tryb kontaktu przerywanego
    detekcja synchroniczna
    obrazowanie fazowe
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-10 z 10

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies