Temat: x-ray reflectometry - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "x-ray reflectometry" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-3 z 3

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Exploring proteins at soft interfaces and in thin liquid films – From classical methods to advanced applications of reflectometry
Autorzy:: Gochev, Georgi G.
Campbell, Richard A.
Warszynski, Piotr
Schneck, Emanuel
Zawala, Jan
Data publikacji:: 2024-05-23
Wydawca:: Elsevier B.V.
Słowa kluczowe:: ellipsometry
neutron reflectometry
x-ray reflectometry
interface
protein
thin liquid film; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Centrum Otwartej Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy
Autorzy:: Kucharska, B.
Kulej, E.
Kanak, J.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: multilayers Cu/Ni
X-ray reflectometry (XRR)
atomic force microscopy (AFM)
roughness; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Badanie nanotwardości i właściwości trybologicznych wielowarstwowych powłok Ti-TiN i AI-AI2O3
Autorzy:: Aubert, P.
Ben Daia, M.
Labdi, S.
Paven-Thivet Le, C.
Sant, C.
Houdy, P.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: tribologia
wielowarstowe powłoki
reflektometria rentgenowska
nanotwardość
tribology
XRR
X-Ray Reflectometry
nanoindentation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-3 z 3

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies