- Tytuł:
- Investigation on the mechanisms of nitrogen shallow implantation infuence on trap properties of SiO₂/n-Type 4H-SiC interface
- Autorzy:
- Król, Krystian
- Współwytwórcy:
-
Szmidt, Jan (1952- )
Sochacki, Mariusz (elektronik) - Data publikacji:
- 2014
- Tematy:
- Fizyka
- Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Academica