Wszystkie pola: analog circuits

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Diagnosis of incipient faults in nonlinear analog circuits
Autorzy:: Deng, Yong
Współwytwórcy:: Zhang, Wei
Shi, Yibing
Data publikacji:: 2012
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Diagnosis of incipient faults in nonlinear analog circuits
Autorzy:: Deng, Y.
Shi, Y.
Zhang, W.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: nonlinear circuits
fault diagnosis
Volterra series
fractional correlation
hidden Markov model (HMM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Parametric fault detection in analog circuits containing MOS transistors
Autorzy:: Kuczyński, Andrzej
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: New Aspects of Fault Diagnosis of Nonlinear Analog Circuits
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Kuczyński, A.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
fault diagnosis
local and global diagnosis
multiple soft fault
nonlinear circuits
single hard faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis
Autorzy:: Ossowski, Marek
Współwytwórcy:: Korzybski, Marek
Data publikacji:: 2013
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Analog Reconfirable Circuits
Autorzy:: Malcher, A.
Falkowski, P.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog signal processing
configurable analog block
CAB
dynamic reconfiguration
field programmable analog array
FPAA
switched capacitor circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Analog circuits diagnosis using discrete wavelet transform of supply current
Autorzy:: Kuczyński, Andrzej
Współwytwórcy:: Ossowski, Marek
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Kalman filter based method for fault diagnosis of analog circuits
Data publikacji:: 2013
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Kalman filter based method for fault diagnosis of analog circuits
Autorzy:: Li, X.
Xie, Y.
Bi, D.
Ao, Y.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog fault diagnosis
signature extraction
Kalman filter
Shannon entropy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: On influence of feedback on harmonics in mildly nonlinear analog circuits
Autorzy:: Borys, Andrzej
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of analog circuits using restart homotopy method
Autorzy:: Tadeusiewicz, Michał
Współwytwórcy:: Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki
Hałgas, Stanisław
Data publikacji:: 2013
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Parametric fault detection in analog circuits containing MOS transistors
Autorzy:: Kuczyński, A.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: układy analogowe
wykrywanie uszkodzeń
dyskretna transformata falkowa
jednokierunkowe sieci neuronowe
analog circuits
fault detection
discrete wavelet transform
feedforward neural network; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing
Autorzy:: Golonek, Tomasz
Współwytwórcy:: Grzechca, Damian
Jantos, Piotr
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: A Verification Technique for Multiple Soft Fault Diagnosis of Linear Analog Circuits
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Ossowski, M.
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
fault diagnosis
linear circuits
multiple soft fault
verification technique; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis
Autorzy:: Ossowski, M.
Korzybski, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: fault diagnosis
feature selection
tolerance
catastrophic faults
grey system theory
diagnostyka uszkodzeń
selekcja cech
tolerancja
uszkodzenia katastroficzne
teoria systemów szarych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Small-Signal Parameters of the VeSFET and Its Application in Analog Circuits
Autorzy:: Kasprowicz, D.
Swacha, B
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: VeSFET
VeSTIC
OTA
układ analogowy
analog circuit
dual-gate device
independent gates; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Topological analysis and diagnosis of analog circuits
Autorzy:: Starzyk, J.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: układ analogowy
analiza topologiczna
diagnostyka układów
lokalizacja uszkodzeń
testowanie układów
analog circuit
topological analysis
diagnosis of circuits
fault location
testing of circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Diagnosis of incipient faults in nonlinear analog circuits
Autorzy:: Deng, Y.
Shi, Y.
Zhang, W.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: nonlinear circuits
fault diagnosis
Volterra series
fractional correlation
hidden Markov model (HMM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Programy symulacyjne elektronicznych układów analogowych
The simulation programs of electronic analog circuits
Autorzy:: Hulewicz, A.
Krawiecki, Z.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:: program symulacyjny
wzmacniacz operacyjny
parametry statyczne
parametry dynamiczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Fault diagnosis of analog circuits using evolutionary algorithms
Autorzy:: Korzybski, M.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: diagnostyka uszkodzeń
diagnostyka układów elektronicznych
liniowe obwody DC
nieliniowe obwody DC
obwody AC
algorytmy genetyczne
algorytmy ewolucyjne
programowanie ekspresji genu
fault diagnosis
diagnosis of analog circuits
linear DC circuits
nonlinear DC circuits
AC circuits
genetic algorithms
evolutionary algorithms
gene expression programming; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:: Analog Circuits Sizing Using the Fixed Point Iteration Algorithm with Transistor Compact Models
Autorzy:: Javid, F.
Iskander, R.
Durbin, F.
Louerat, M.-M.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: IP analogowe
design reuse
graf dwudzielny
model tranzystora
migracja technologii
analog IP
analog sizing
bipartite graphs
transistor compact models
technology migration; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:: Fast optimization schemes for feature selection in analog circuits fault diagnosis
Autorzy:: Ossowski, M.
Korzybski, M.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: feature selection
BPSO algorithm
tolerance
classifiers
selekcja cech
binarny algorytm PSO
tolerancja
klasyfikatory; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Some aspects of fault diagnosis of linear analog circuits using sensitivity analysis
Autorzy:: Sidyk, Piotr
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: fault diagnosis
sensitivity analysis
analog circuits
diagnostyka uszkodzeń
układy analogowe
analiza wrażliwościowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:: Kalman filter based method for fault diagnosis of analog circuits
Autorzy:: Li, X.
Xie, Y.
Bi, D.
Ao, Y.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: analog fault diagnosis
signature extraction
Kalman filter
Shannon entropy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:: Analog circuits diagnosis using discrete wavelet transform of supply current
Autorzy:: Kuczyński, A.
Ossowski, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: fault diagnosis
fault detection and localization
electronic circuits
discrete wavelet transform
multiresolution signal approximation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 26.

Tytuł:: New Aspects of Fault Diagnosis of Nonlinear Analog Circuits
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Kuczyński, A.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: analog circuits
fault diagnosis
local and global diagnosis
multiple soft fault
nonlinear circuits
single hard faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 27.

Tytuł:: A method for Soft Fault Diagnosis of Linear Analog Circuits Using the Laplace Transform Technique
Autorzy:: Tadeusiewicz, Michał
Ossowski, Marek
Korzybski, Marek
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog linear circuits
fault diagnosis
multiple soft fault
Laplace transform; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 28.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of analog circuits using restart homotopy method
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: analog circuits
fault diagnosis
multiple soft fault
restart homotopy
diagnostyka układów analogowych
metoda homotopii
układy nieliniowe
uszkodzenia wielokrotne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 29.

Tytuł:: Optimization of the test conditions for fault detection in nonlinear analog circuits using supply current
Autorzy:: Kuczyński, Andrzej
Współwytwórcy:: Ossowski, Marek
Data publikacji:: 2013
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 30.

Tytuł:: The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing
Autorzy:: Golonek, T.
Jantos, P.
Grzechca, D.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń analogowych
pobudzenie testujące
obliczenia ewolucyjne
gęstość widmowa amplitudy
analog faults detection
testing stimuli
evolutionary computations
amplitude density; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 31.

Tytuł:: Methodology for the digital calibration of analog circuits and systems using sub-binary radix DACs
Autorzy:: Pastre, M.
Kayal, M
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: wzorcowanie
sub binarny DACs
przeniesienie kompensancji
głębokie sub mikrony
zmienność
calibration
sub-binary DACs
M/2+M
offset compensation
deep submicron
variability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 32.

Tytuł:: Diagnosis of Soft Spot Short Defects in Analog Circuits Considering the Thermal Behaviour of the Chip
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
fault diagnosis
short spot defects
thermal effects; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 33.

Tytuł:: Analysis of harmonic distortion in analog circuits with the use of Volterra series and Kronecker products
Autorzy:: Borys, A.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: harmonic distortion modelling
harmonic distortion calculation
modelling of op amp configurations
Volterra series
modelowanie zakłóceń harmonicznych
obliczanie zakłóceń harmonicznych
modelowanie konfiguracji op amp
szereg Volterry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 34.

Tytuł:: Optimization of the test conditions for fault detection in nonlinear analog circuits using supply current
Autorzy:: Kuczyński, A.
Ossowski, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: analog circuits
fault detection
discrete wavelet transform
feedforward neural network
optimization
układy analogowe
wykrywanie uszkodzeń
transformacja falkowa dyskretna
sieci neuronowe jednokierunkowe
optymalizacja; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 35.

Tytuł:: A Verification Technique for Multiple Soft Fault Diagnosis of Linear Analog Circuits
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Ossowski, M.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: analog circuits
fault diagnosis
linear circuits
multiple soft fault
verification technique; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 36.

Tytuł:: Method for fault diagnosis of nonlinear analog circuits piecewise linear type
Autorzy:: Robotycki, A.
Zielonko, R.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: diagnosis of analog circuits
piecewise linear models
verification method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 37.

Tytuł:: Identification of Circuit Parameters for the Specified or Measured Performances
Autorzy:: Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
parameter identification
fault diagnosis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 38.

Tytuł:: Identification of Circuit Parameters for the Specified or Measured Performances
Autorzy:: Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: analog circuits
parameter identification
fault diagnosis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 39.

Tytuł:: Some methods of diagnosis of analog circuits using mixed signal test bu IEEE 1149.4
Autorzy:: Bartosiński, B.
Toczek, W.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: diagnostyka układów analogowych
magistrala mieszana sygnałowo
IEEE 1149.4
diagnostic of analog circuits
mixed signal test bus; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 40.

Tytuł:: Sinusoidal Oscillator Circuits Reexamined
Autorzy:: Prasad, V. C.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: sinusoidal oscillator
Barkhausen's criterion
analog circuits
feedback circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 41.

Tytuł:: Diagnosis of analog electronic circuits using modified oscillation - test method
Autorzy:: Toczek, W.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: diagnosis of analog circuits
modified oscillation-test method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 42.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of nonlinear dc circuits considering component tolerances
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: analog circuits
fault diagnosis
multiple faults
nonlinear circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 43.

Tytuł:: Global parametric fault identification in analog electronic circuits
Autorzy:: Jantos, Piotr
Współwytwórcy:: Grzechca, Damian
Rutkowski, Jerzy (elektronik)
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 44.

Tytuł:: Small-Signal Parameters of the VeSFET and Its Application in Analog Circuits
Autorzy:: Kasprowicz, D.
Swacha, B.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: VeSFET
VeSTIC
OTA
układ analogowy
analog circuit
dual-gate device
independent gates; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 45.

Tytuł:: Diagnosis of Soft Spot Short Defects in Analog Circuits Considering the Thermal Behaviour of the Chip
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: analog circuits
fault diagnosis
short spot defects
thermal effects; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 46.

Tytuł:: Dynamically programmable analog arrays in acoustic frequency range signal processing
Autorzy:: Falkowski, P.
Mechler, A.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: FPAA
audio processing
switched-capacitor
analog circuits design; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 47.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of BJT circuits
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: analog circuits
BJT circuits
fault diagnosis
multiple faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 48.

Tytuł:: Sinusoidal Oscillator Circuits Reexamined
Autorzy:: Prasad, V. C.
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: sinusoidal oscillator
Barkhausen’s criterion
analog circuits
feedback circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 49.

Tytuł:: Dynamically programmable analog arrays in acoustic frequency range signal processing
Autorzy:: Falkowski, P.
Mechler, A.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: FPAA
audio processing
switched-capacitor
analog circuits design; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 50.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of BJT circuits
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
BJT circuits
fault diagnosis
multiple faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 51.

Tytuł:: Analog Circuits Sizing Using the Fixed Point Iteration Algorithm with Transistor Compact Models
Autorzy:: Javid, F.
Iskander, R.
Durbin, F.
Louerat, M.-M.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: IP analogowe
graf dwudzielny
model tranzystora
migracja technologii
analog IP
analog sizing
design reuse
bipartite graphs
transistor compact models
technology migration; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 52.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of nonlinear circuits using the fault dictionary approach
Autorzy:: Hałgas, S.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: fault diagnosis
fault dictionary
analog circuits
multiple faults; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 53.

Tytuł:: Multiple soft fault diagnosis of nonlinear dc circuits considering component tolerances
Autorzy:: Tadeusiewicz, M.
Hałgas, S.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
fault diagnosis
multiple faults
nonlinear circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 54.

Tytuł:: An Accurate DC MOSFET Model for VLSI Simulation
Autorzy:: Ati, A.A.
Napieralski, A.
Napieralska, M.
Ciota, Z.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: charge-sheet model
submicron MOSFETs
VLSI simulation
analog circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 55.

Tytuł:: A MLMVN with arbitrary complex-valued inputs and a hybrid testability approach for the extraction of lumped models using FRA
Autorzy:: Aizenberg, Igor
Luchetta, Antonio
Manetti, Stefano
Piccirilli, Maria Cristina
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: analog circuits
complex-valued neural networks
lumped model
testability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 56.

Tytuł:: A method for Soft Fault Diagnosis of Linear Analog Circuits Using the Laplace Transform Technique
Autorzy:: Tadeusiewicz, Michał
Ossowski, Marek
Korzybski, Marek
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: analog linear circuits
fault diagnosis
multiple soft fault
Laplace transform; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 57.

Tytuł:: A MLMVN with arbitrary complex-valued inputs and a hybrid testability approach for the extraction of lumped models using FRA
Autorzy:: Aizenberg, Igor
Luchetta, Antonio
Manetti, Stefano
Piccirilli, Maria Cristina
Data publikacji:: 2019
Wydawca:: Społeczna Akademia Nauk w Łodzi. Polskie Towarzystwo Sieci Neuronowych
Tematy:: analog circuits
complex-valued neural networks
lumped model
testability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 58.

Tytuł:: Analog Reconfirable Circuits
Autorzy:: Malcher, A.
Falkowski, P.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: analog signal processing
configurable analog block
CAB
dynamic reconfiguration
field programmable analog array
FPAA
switched capacitor circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 59.

Tytuł:: Double-gate MOSFET Model Implemented in Verilog-AMS Language for the Transient Simulation and the Configuration of Ultra Low-power Analog Circuits
Autorzy:: Smaani, Billel
Meraihi, Yacin
Nafa, Fares
Benlatreche, Mohamed Salah
Akroum, Hamza
Latreche, Saida
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: double-gate MOSFET
compact model
ultra low power analog circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 60.

Tytuł:: Fault diagnosis in analog electronic circuits : the SVM approach
Autorzy:: Grzechca, Damian
Współwytwórcy:: Rutkowski, Jerzy (elektronik)
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 61.

Tytuł:: On influence of feedback on harmonics in mildly nonlinear analog circuits
Autorzy:: Borys, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: analiza zniekształceń harmonicznych
sprzężenie zwrotne
układy i systemy analogowe pracujące w zakresie tzw. małych nieliniowośc
wpływ sprzężenia zwrotnego na składowe harmoniczne wyższych rzędów
szereg Volterry
harmonic
distortion analysis
mildly nonlinear circuits and systems
feedback
influence of feedback on harmonics
Volterra series; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 62.

Tytuł:: Double-gate MOSFET Model Implemented in Verilog-AMS Language for the Transient Simulation and the Configuration of Ultra Low-power Analog Circuits
Autorzy:: Smaani, Billel
Meraihi, Yacin
Nafa, Fares
Benlatreche, Mohamed Salah
Akroum, Hamza
Latreche, Saida
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: double-gate MOSFET
compact model
ultra low power analog circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 63.

Tytuł:: Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych
Autorzy:: Grzechca, D.
Golonek, T.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: testowanie funkcjonalne
symulacja uszkodzeń
układy analogowe
functional testing
fault simulation
analog circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 64.

Tytuł:: Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind
Autorzy:: Chruszczyk, Łukasz
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 65.

Tytuł:: Methodology for the digital calibration of analog circuits and systems using sub-binary radix DACs
Autorzy:: Pastre, M.
Kayal, M
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: wzorcowanie
sub binarny DACs
przeniesienie kompensancji
głębokie sub mikrony
zmienność
calibration
sub-binary DACs
M/2+M
offset compensation
deep submicron
variability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 66.

Tytuł:: Poprawa skuteczności algorytmów detekcji i lokalizacji uszkodzeń nieliniowych układów analogowych za pomocą selekcji cech
Autorzy:: Ossowski, M.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: diagnostyka uszkodzeń
układy analogowe
selekcja cech
fault diagnosis
analog circuits
feature selection; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 67.

Tytuł:: Transresistance CMOS neuron for adaptive neural networks implemented in hardware
Autorzy:: Wojtyna, R.
Talaśka, T.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: neural networks
learning on silicon
hardware intelligence
CMOS analog circuits
low-power electronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 68.

Tytuł:: Construction of an Expert System Based on Fuzzy Logic for Diagnosis of Analog Electronic Circuits
Autorzy:: Grzechca, D. E.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits fault diagnosis
analog system testing
fuzzy set theory
expert system
sensitivity analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 69.

Tytuł:: Detekcja i lokalizacja uszkodzeń układów analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Autorzy:: Ossowski, M.
Kuczyński, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: układy analogowe
diagnostyka
obszary tolerancji
algorytmy genetyczne
analog circuits fault
diagnosis
genetic algorithms; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 70.

Tytuł:: A novel approach of analog fault classification using a support vector machines classifier
Autorzy:: Cui, J.
Wang, Y.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: analog circuits
fault classification
support vector machines classifier
neural networks
wavelet packet decomposition; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 71.

Tytuł:: Analysis of harmonic distortion in analog circuits with the use of Volterra series and Kronecker products
Autorzy:: Borys, A.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: harmonic distortion modelling
harmonic distortion calculation
modelling of op amp configurations
Volterra series
modelowanie zakłóceń harmonicznych
obliczanie zakłóceń harmonicznych
modelowanie konfiguracji op amp
szereg Volterry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 72.

Tytuł:: On influence of feedback on harmonics in mildly nonlinear analog circuits
O wpływie sprzężenia zwrotnego na składowe harmoniczne w układach analogowych z małymi nieliniowościami
Autorzy:: Borys, A.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Politechnika Bydgoska im. Jana i Jędrzeja Śniadeckich. Wydawnictwo PB
Tematy:: analiza zniekształceń harmonicznych
sprzężenie zwrotne
układy i systemy analogowe pracujące w zakresie tzw. małych nieliniowośc
wpływ sprzężenia zwrotnego na składowe harmoniczne wyższych rzędów
szereg Volterry
harmonic
distortion analysis
mildly nonlinear circuits and systems
feedback
influence of feedback on harmonics
Volterra series; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 73.

Tytuł:: Construction of an Expert System Based on Fuzzy Logic for Diagnosis of Analog Electronic Circuits
Autorzy:: Grzechca, D. E.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: analog circuits fault diagnosis
analog system testing
fuzzy set theory
expert system
sensitivity analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 74.

Tytuł:: Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits
Autorzy:: Korzybski, Marek
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 75.

Tytuł:: Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits
Autorzy:: Kyzioł, P.
Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: wielowymiarowa przestrzeń poszukiwań
CUT
PSO
multidimensional search space
analog circuits
particle swarm optimization (PSO); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 76.

Tytuł:: Finding of optimal excitation signal for testing of analog electronic circuits
Autorzy:: Chruszczyk, L.
Współwytwórcy:: Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki
Data publikacji:: 2007
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 77.

Tytuł:: Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: lokalizacja uszkodzeń
mikrokontrolery
układy analogowe
elektrotechnika
fault localization
microcontrollers
analog circuits
electrical engineering
electrotechnics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 78.

Tytuł:: CMOS inverter based analog multipliers
Autorzy:: Machowski, W.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: technika analogowa
układ mnożący
technologia CMOS
układy niskonapięciowe
analog circuits
analog multiplier
CMOS technology
low-voltage circuits; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 79.

Tytuł:: A Novel Approach To Diagnosis Of Analog Circuit Incipient Faults Based On KECA And OAO LSSVM
Autorzy:: Zhang, C.
He, Y.
Zuo, L.
Wang, J.
He, W.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: analog circuits
incipient fault diagnosis
wavelet transform
kernel entropy component analysis
least squares support vector machine; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 80.

Tytuł:: VHDL-AMS Models for Current Conveyor Based Monolithic Operational Amplifiers
Autorzy:: Pandiev, Ivailo M.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: analog circuits
CCII
CCCII
CFOA
integrated circuit modelling
VHDL-AMS
circuit simulation
układy analogowe
symulacja obwodowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 81.

Tytuł:: A Novel Approach To Diagnosis Of Analog Circuit Incipient Faults Based On KECA And OAO LSSVM
Autorzy:: Zhang, C.
He, Y.
Zuo, L.
Wang, J.
He, W.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits
incipient fault diagnosis
wavelet transform
kernel entropy component analysis
least squares support vector machine; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 82.

Tytuł:: Analog circuits specification driven testing by the means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily
Autorzy:: Golonek, T.
Chruszczyk, Ł.
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: analog electronic circuits
specification driven testing
evolutionary computations
multiple regression
obwód elektroniczny analogowy
test oparty na specyfikacji
obliczenia ewolucyjne
regresja wielokrotna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 83.

Tytuł:: Cascode ampliﬁers with low-gain variability and gain enhancement using a body-biasing technique
Autorzy:: Pereira, N
Oliveira, L. B.
Goes, J.
Oliveira, J. P.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: ampliﬁer
body-biasing
cascode
CMOS analog circuits
PVT compensation
wzmacniacz
kaskoda
układy analogowe CMOS
kompensacja PVT; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 84.

Tytuł:: Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
Autorzy:: Czaja, Z.
Kowalewski, M.
Zielonko, R.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: klasyfikatory neuronowe
mikrokontrolery
układy analogowe
elektrotechnika
elektroenergetyka
neural classifiers
microcontrollers
analog circuits
electrical technology
electrical power engineering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 85.

Tytuł:: Cascode ampliﬁers with low-gain variability and gain enhancement using a body-biasing technique
Autorzy:: Pereira, N.
Oliveira, L. B.
Goes, J.
Oliveira, J. P.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: amplifier
body-biasing
cascode
CMOS analog circuits
PVT compensation
wzmacniacz
kaskoda
układy analogowe CMOS
kompensacja PVT; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 86.

Tytuł:: VHDL-AMS Models for Current Conveyor Based Monolithic Operational Amplifiers
Autorzy:: Pandiev, Ivailo M.
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: analog circuits
CCII
CCCII
CFOA
integrated circuit modelling
VHDL-AMS
circuit simulation
układy analogowe
symulacja obwodowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 87.

Tytuł:: Fully Analytical Characterization of the Series Inductance of Tapered Integrated Inductors
Autorzy:: Passos, F.
Fino, M. H.
Moreno, E. R.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: inductor design
variable width integrated spiral inductor
integrated spiral inductor
CMOS analog circuits
IC designing
RF IC design; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 88.

Tytuł:: Global parametric fault identification in analog electronic circuits
Autorzy:: Jantos, P.
Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: global parametric fault
identification
artificial neural networks; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 89.

Tytuł:: Regulowany Multiplikator Pojemności w Technologii CMOS
Autorzy:: Kulej, T.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: układy analogowe CMOS
układy mikromocowe
mnożniki pojemności
filtry aktywne
CMOS analog circuits
micropower circuits
capacitance multipliers
active filters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 90.

Tytuł:: Fault diagnosis in analog electronic circuits - the SVM approach
Autorzy:: Grzechca, D.
Rutkowski, J.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: fault diagnosis
electronic circuits
support vector machine (SVM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 91.

Tytuł:: Programy symulacji i analizy rodziny ICAP/4 Windows
Autorzy:: Rudnicki, C.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: SPICE
symulacja
układy analogowe
Berkeley
analizy statystyczne
analiza uszkodzeń
Monte Carlo
simulation
analog circuits
statistical analysis
fault analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 92.

Tytuł:: A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus
Autorzy:: Czaja, Z.
Bartosiński, B.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: IEEE1149.1 test bus
fault diagnosis
microcontrollers
analog circuits
magistrala IEEE1149.1
diagnostyka uszkodzeń
mikrokontrolery
układy analogowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 93.

Tytuł:: Fully Analytical Characterization of the Series Inductance of Tapered Integrated Inductors
Autorzy:: Passos, F.
Fino, M. H.
Moreno, E. R.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: inductor design
variable width integrated spiral inductor
integrated spiral inductor
CMOS analog circuits
IC designing
RF IC design; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 94.

Tytuł:: Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i metoda diagnostyki obiektów technicznych
Autorzy:: Zielonko, R.
Kowalewski, M.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: diagnostyka układów analogowych
metody słownikowe
uszkodzenia parametryczne
klasyfikatory neuronowe
diagnosis of analog circuits
dictionary method
soft faults
neural classifiers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 95.

Tytuł:: Power-saving voltage-to-current conversion with the use of CMOS differential amplifier
Autorzy:: Wojtyna, R.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: analog signal processing
differential amplifier
CMOS electronics
low-power analog circuits
analogowe przetwarzanie sygnałów
wzmacniacz różnicowy
CMOS
obwody niskiego napięcia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 96.

Tytuł:: A prediction of the fault-induced instability of circuit under test as a new approach in categorisation of faults
Autorzy:: Toczek, W.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: testowanie układu analogowego
kategoryzacja uszkodzeń
niestabilność indukowana przez uszkodzenie
testing of analog circuits
categorisation of faults
fault-induced instability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 97.

Tytuł:: Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits
Autorzy:: Korzybski, M.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: diagnostyka uszkodzeń parametrycznych
sieci neuronowe
metoda programowania wyrażeń genetycznych
soft fault diagnosis
neural networks
gene expression programming; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 98.

Tytuł:: Power-saving voltage-to-current conversion with the use of CMOS differential amplifier
Autorzy:: Wojtyna, R.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:: analog signal processing
differential amplifier
CMOS electronics
low-power analog circuits
analogowe przetwarzanie sygnałów
wzmacniacz różnicowy
CMOS
obwody niskiego napięcia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 99.

Tytuł:: Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i metoda diagnostyki obiektów technicznych
New, metrologicaly oriented neural network and method for technical objects diagnosis
Autorzy:: Zielonko, R.
Kowalewski, M.
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: diagnostyka układów analogowych
metody słownikowe
uszkodzenia parametryczne
klasyfikatory neuronowe
diagnosis of analog circuits
dictionary methods
soft faults
neural classifiers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 100.

Tytuł:: Metoda szybkiego prototypowania wielostopniowych modulatorów MASH za pomocą dynamicznie reprogramowanych układów FPAA
Autorzy:: Suszyński, R.
Wawryniuk, K.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: przetwornik A/C
MASH
FPAA
projektowanie układów analogowych
układy programowane dynamicznie
prototypowanie
a/d converter
analog circuits design
dynamically programmable circuits
prototyping; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "analog circuits" wg kryterium: Wszystkie pola