Wszystkie pola: diffraction technique

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Spatially Resolved X-ray Diffraction Technique for Crystallographic Quality Inspection of Semiconductor Microstructures
Autorzy:: Domagala, J.
Czyzak, A.
Zytkiewicz, Z.
Data publikacji:: 2008-11
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 61.05.cp
61.72.Ff
68.55.ag; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Fast method of identification of crystal powder mixture by X-ray diffraction technique
Autorzy:: Kulczycki, A.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: proszek krystaliczny
dyfrakcja rentgenowska
crystal powder
X-ray diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Determination of bubble size distribution in a laboratory mechanical flotation cell by a laser diffraction technique
Autorzy:: Mazahernasab, R.
Ahmadi, R.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:: bubble size distribution
mechanical flotation cell
laser diffraction technique (LDT)
Image Analysis Technique (IAT)
effective parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Planar irregularities of texture and stress field detected by X ray diffraction technique
Autorzy:: Tarkowski, L.
Bonarski, J.
Alexandrov, I. V.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: tytan
dyfrakcja rentgenowska
tekstura krystaliczna
titanium
X-ray diffraction
crystallographic texture
residual stresses; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Detection of Imperfections in Welded Joints Using the Time-of-Flight-Diffraction Technique (TOFD)
Autorzy:: Kaczmarek, K.
Irek, P.
Rawicki, Ł.
Słania, J.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: TOFD
Time-of-Flight-Diffraction Technique
non-destructive testing
badania nieniszczące
złącza spawane
technika czasu przejścia wiązki dyfrakcyjnej; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Application of the Tikhonov and the modified Twomey methods to calculate narrow microparticle size distributions by the laser diffraction technique
Autorzy:: Pawlata, Andrzej
Bartosewicz, Bartosz
Data publikacji:: 2023
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Tematy:: laser diffraction
Mie scatter
size particle distribution
Tikhonov regularization method
modified Twomey method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Determination of bubble size distribution in a laboratory mechanical flotation cell by a laser diffraction technique
Autorzy:: Mazahernasab, R.
Ahmadi, R.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: bubble size distribution
mechanical flotation cell
laser diffraction technique (LDT)
image analysis technique
effective parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Application of the Tikhonov and the modified Twomey methods to calculate narrow microparticle size distributions by the laser diffraction technique
Autorzy:: Pawlata, Andrzej
Bartosewicz, Bartosz
Data publikacji:: 2023
Słowa kluczowe:: laser diffraction
Mie scatter
size particle distribution
Tikhonov regularization method
modified Twomey method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Synthesis and crystal structure of inorganic-organic hybrid materials
Synteza i struktura krystaliczna organiczno-nieorganicznych zwizków warstwowych
Autorzy:: Sanz Camacho, Paula
Słowa kluczowe:: Półprzewodnik, hybrydowe nano- materialy, dyfrakcja rentgenowska
Semiconductor materials, hybrid nano-materials, Powder X ray diffraction technique.; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Badanie stanu naprężeń własnych po obróbce ubytkowej materiału kompozytowego o osnowie z aluminium zawierającego dodatek ceramiczny
Autorzy:: Cyboroń, J.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: naprężenia własne
stały kąt padania
stop aluminium
residual stress
grazing incidence X-ray diffraction technique
aluminum alloy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Zastosowanie dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów do wyznaczania grup punktowych i grup przestrzennych kryształów
Autorzy:: Gigla, M.
Szędzielorz, A.
Morawiec, H.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: dyfrakcja zbieżnej wiązki elektronów
grupa punktowa
grupa przestrzenna
kryształ
linie GM
defekt
convergent beam electron
diffraction technique
CBED
point groups
space groups
crystal
SM lines
defect; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Microtexture investigations in austenitic-ferritic steels using EBSD technique.
Autorzy:: Jura, J.
Bunsch, A.
Ratuszek, W.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: technika wstecznego rozproszenia elektronów
EBSD
stal dwufazowa
pomiar lokalnych orientacji
rozkłady dezorientacji
tekstury krystalograficzne
Electron Back Scattering Diffraction technique
EBSD technique
two-phase steel
local orientation measurement
desorientation distributions
crystallographic texture; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: XRD and EBSD Measurements of Directional Solidification Fe-C Eutectic Alloy
Autorzy:: Trepczyńska-Łent, M.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: X-ray diffraction
EBSD technique
carbide eutectic
directional solidification
dyfrakcja rentgenowska
dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych
krzepnięcie kierunkowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: XRD and EBSD Measurements of Directional Solidification Fe-C Eutectic Alloy
Autorzy:: Trepczyńska-Łent, M.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction
EBSD technique
carbide eutectic
directional solidification
dyfrakcja rentgenowska
dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych
krzepnięcie kierunkowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Structural and Optical Properties of CuO Doped (Li) Thin Films Prepared by Sol-Gel Technique
Autorzy:: Kadhim, Raheem G.
Kzar, Kzar
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:: CuO
Li
Sol-gel
spin coating
x-ray diffraction
UV- Visible; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Performing of ultrasonic inspection using TOFD technique in terms of the requirements of related standards
Autorzy:: Kaczmarek, R.
Kaczmarek, K.
Słania, J.
Krawczyk, R.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: time-of-flight diffraction
TOFD
non-destructive testing of welds
ultrasonic tests
czas dyfrakcji lotu
badania nieniszczące spoin
ultradźwiękowe badania; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Wiener-Hopf analysis of diffraction of acoustic waves by a soft/hard half-plane
Autorzy:: Ayub, M.
Mann, A. B.
Ahmad, M.
Tiwana, M. H.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: diffraction
Wiener-Hopf technique
line source diffraction
point source diffraction
steepest descent method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Influence of the Aperture Edge Diffraction Effects on the Mutual Coupling Compensation Technique in Small Planar Antenna Arrays
Autorzy:: Zamłyński, M.
Słobodzian, P.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: active element
mutual coupling
antenna array
diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Influence of the Aperture Edge Diffraction Effects on the Mutual Coupling Compensation Technique in Small Planar Antenna Arrays
Autorzy:: Zamłyński, M.
Słobodzian, P.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: active element
mutual coupling
antenna array
diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Structural and optical characterization of SnS thin films by electrodeposition technique
Autorzy:: Mariappan, R.
Ragavendar, M.
Ponnuswamy, V.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: tin sulphide (SnS) thin films
cathodic electrodeposition
X-ray diffraction
SEM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:: Optimization and characterization of NiO thin films prepared via NSP technique and its P-N junction diode application
Autorzy:: Saju, Joseph
Balasundaram, O. N.
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: thin films
X-ray diffraction
optical properties
electrical properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:: Thermal stability of the Cu/Ni multilayer system in X-ray diffraction and scanning microscopy examinations
Autorzy:: Kucharska, B.
Kulej, E.
Wróbel, A.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: Cu/Ni multilayer
thermal stability
X-ray technique; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Structural and magnetic properties of the as - cast Nd10Fe83Zr1B6 ribbons, studied by X-ray diffraction and Mössbauer spectroscopy
Autorzy:: Ceglarek, A.
Płusa, D.
Pawlik, P.
Gębara, P.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: hard magnetic magnets
melt-spinning technique
Mössbauer spectroscopy
nanocomposites; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:: X-Ray High-Resolution Diffraction and Transmission Topography Study of InGaAs Grown by Liquid Encapsulated Czochralski Technique
Autorzy:: Kowalski, G.
Gronkowski, J.
Borowski, J.
Hruban, A.
Data publikacji:: 2008-08
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 61.72.Dd
07.85.Jy
81.10.Fq; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:: Investigations on the structural, morphological, optical and electrical properties of undoped and nanosized Zn-doped CdS thin films prepared by a simplified spray technique
Autorzy:: Anbarasi, M.
Nagarethinam, V. S.
Balu, A. R.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction
crystal structure
preferential orientation
thin films
optical properties
electrical studies; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 26.

Tytuł:: Internal wave diffraction by a strip of an elastic plate on the surface of a stratified fluid
Autorzy:: Dolai, P.
Dolai, D. P.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Tematy:: równanie Kleina-Gordona
płyn warstwowy
metoda Wienera-Hopfa
stratified fluid
Klein-Gordon equation
Wiener-Hopf technique
steepest descent method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 27.

Tytuł:: An Orientation-space Super Sampling Technique for Six-dimensional Diffraction Contrast Tomography
Autorzy:: Viganò, N.
Batenburg, K. J.
Ludwig, W.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: orientation
tomography
x-ray imaging
polycrystals
computer storage devices
sampling; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 28.

Tytuł:: Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001]
Autorzy:: Wójcik, M.
Gaca, J.
Wierzbicka, E.
Turos, A.
Strupiński, W.
Caban, P.
Sathish, N.
Pągowska, K.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: HRXRD
implementacja jonowa
dyfrakcja
ion implantation
diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 29.

Tytuł:: Structural and magnetic properties of the as - cast Nd10Fe83Zr1B6 ribbons, studied by X-ray diffraction and Mössbauer spectroscopy
Autorzy:: Ceglarek, A.
Płusa, D.
Pawlik, P.
Gębara, P.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:: hard magnetic magnets
melt-spinning technique
Mössbauer spectroscopy
nanocomposites; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 30.

Tytuł:: Internal wave diffraction by a strip of an elastic plate on the surface of a stratified fluid
Autorzy:: Dolai, P.
Dolai, D. P.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: równanie Kleina-Gordona
płyn warstwowy
metoda Wienera-Hopfa
stratified fluid
Klein-Gordon equation
Wiener-Hopf technique
steepest descent method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 31.

Tytuł:: Corrections for residual stress in X-ray grazing incidence technique
Autorzy:: Wroński, S.
Wierzbanowski, K.
Baczmański, A.
Braham, C.
Lodini, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: dyfrakcja rentgenowska
naprężenia własne
metoda stałego kąta padania
stal nierdzewna AISI 316L
X-ray diffraction
internal stresses
stress determination
grazing incidence method
AISI316L strainless steel; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 32.

Tytuł:: Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001]
Lattice strain study in implanted GaN epitaxial layer deposited by means of MOCVD technique on [001] oriented sapphire substrate
Autorzy:: Wójcik, M.
Gaca, J.
Wierzbicka, E.
Turos, A.
Strupiński, W.
Caban, P.
Sathish, N.
Pągowska, K.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:: HRXRD
implementacja jonowa
dyfrakcja
ion implantation
diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 33.

Tytuł:: Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001]
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 4
Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001] = Lattice strain study in implanted GaN epitaxial layer deposited by means of MOCVD technique on [001] oriented sapphire substrate
Autorzy:: Wójcik Marek
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: diffraction
HR XRD
implantacja jonowa
Elektronika - czasopismo - materialy
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
HRXRD
ion implantation
dyfrakcja; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "diffraction technique" wg kryterium: Wszystkie pola