- Tytuł:
-
Wpływ szerokości pasma przenoszenia przetwornika konduktancyjno-napięciowego na dokładność wyznaczania parametrów centrów defektowych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej
Materiały Elektroniczne 2004 T.32 nr 1/4
Wpływ szerokości pasma przenoszenia przetwornika konduktancyjno-napięciowego na dokładność wyznaczania parametrów centrów defektowych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej = - Autorzy:
- Pawłowski Michał
- Data publikacji:
- 2004
- Wydawca:
- ITME
- Słowa kluczowe:
-
PITS
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
defect centre
DLTS
Electronic - journal - materials
centrum defektowe
Elektronika - czasopismo - materiały - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych