Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "InAs/GaAs" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-48 z 48
Tytuł:
Electronic Properties of InAs/GaAs Self-Assembled Quantum Dot Structures and Devices Studied by Photocurrent Spectroscopy
Autorzy:
Mowbray, D. J.
Fry, P. W.
Skolnick, M. S.
Itskevich, I. E.
Harris, L.
Ashmore, A. D.
Finley, J. J.
Wilson, L. R.
Schumacher, K. L.
Barker, J. A.
O'Reilly, E. P.
Al-Khafaji, M.
Cullis, A. G.
Hopkinson, M.
Clark, J. C.
Hill, G.
Data publikacji:
2000-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.66.Fd
73.61.Ey
73.50.Pz
42.55.Px
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The calculation for strain distributions and electronic structure of InAs/GaAs quantum dots based on the eight-band k·p theory
Autorzy:
Shu, Changgan
Współwytwórcy:
Liu, Yumin
Data publikacji:
2016
Tematy:
Fizyka teoretyczna
Elektryczność - fizyka
Półprzewodniki - fizyka - modele matematyczne
Modele matematyczne - stosowanie
Naprężenia i odkształcenia - modele matematyczne
Arsenek indu - fizyka
Mechanika kwantowa - stosowanie
Arsenek galu - fizyka
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
Tytuł:
The calculation for strain distributions and electronic structure of InAs/GaAs quantum dots based on the eight-band k·p theory
Autorzy:
Shu, Changgan
Liu, Yumin
Data publikacji:
2016-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.21.La
73.63.Kv
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Multi-technique characterisation of InAs-on-GaAs wafers with circular defect pattern
Autorzy:
Boguski, Jacek
Wróbel, Jarosław
Złotnik, Sebastian
Budner, Bogusław
Liszewska, Malwina
Kubiszyn, Łukasz
Michałowski, Paweł P.
Ciura, Łukasz
Moszczyński, Paweł
Odrzywolski, Sebastian
Jankiewicz, Bartłomiej
Wróbel, Jerzy
Data publikacji:
2023
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Tematy:
wafer homogeneity
wafer defect pattern
surface roughness
indium arsenide
beryllium doping
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wpływ grubości epitaksjalnych warstw InAs na GaAs wykonywanych w technologii MBE, na ich parametry transportu ładunków elektrycznych
Autorzy:
Wolkenberg, A.
Przesławski, T.
Data publikacji:
2007
Słowa kluczowe:
InAs/GaAs
transport ładunku
hopping po stanach donorowych
hopping po stanach międzypowierzchni podłoże-warstwa
epitaksja z wiązek molekularnych
MBE
transport properties
hopping on donor states
hopping on the states at the interface substrate-layer
molecular beam epitaxy
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Comparative study of the molecular beam epitaxial growth of InAs/GaSb superlattices on GaAs and GaSb substrates
Współwytwórcy:
Benyahia, Djalal. Autor
Martyniuk, Paloma. Autor
Michalczewski, Krystian. Autor
Rogalski, Antoni (1946- ). Autor
Kubiszyn, Łukasz. Autor
Piotrowski, Józef (1943- ). Autor
Kębłowski, Artur. Autor
Data publikacji:
2017
Tematy:
Półprzewodniki
Krystalografia rentgenowska
Epitaksja
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
Tytuł:
Wybrane problemy materiałowe w przemyśle elektronicznym: wpływ grubości warstwy epitaksjalnej InAs na podłożu GaAs <100> na jej jakość krystaliczną i półprzewodnikową : miniaturyzacja w technologii krzemowej
Autorzy:
Wolkenberg, A.
Przesławski, T.
Regiński, K.
Bąk-Misiuk, J.
Kaniewski, J.
Data publikacji:
2000
Słowa kluczowe:
przemysł elektroniczny
warstwa epitaksjalna
warstwa półprzewodnikowa
warstwa epitaksjalna InAs
podłoże GaAs
grubość warstwy
jakość krystalograficzna
jakość półprzewodnikowa
miniaturyzacja
technologia krzemowa
semiconductor electronic industry
epitaxial thickness
InAs epitaxial layers
GaAs wafers
crystallographic quality
semiconductor quality
miniaturization
silicon technology
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-48 z 48

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies