Wszystkie pola: microelectronics

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Application of plasma in microelectronics
Autorzy:: Szmidt J.
Werbowy A.
Tematy:: layer etching
application
plasma
microelectronics
plasma technique; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Mikroelektronika : materiały i przyrządy
Autorzy:: Jakubowski, A.
Łukasiak, L.
Szmidt, J.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
krzem
SOI
SiGe
SiC
GaN
microelectronics
silicon; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
Autorzy:: Błąd, G.
Wałach, T.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: termografia
mikroelektronika
niepewność
infrared thermography
microelectronics
uncertainty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Sterowane elektrycznie pojemności stosowane w mikroelektronice
Autorzy:: Polowczyk, M.
Kordalski, W.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: zmienne pojemności
mikroelektronika
warikapy
MEMS
BST
tunable capacitors
varicaps
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Mikrourządzenia w makroświecie
Autorzy:: Sulima, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: miniaturyzacja
mikroelektronika
elektronika
historia
miniaturization
microelectronics
electronics
history; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Materiały oligomerowe i polimerowe w mikroelektronice
Autorzy:: Hałasa, E.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
materiały oligomerowe
materiały polimerowe
microelectronics
oligomeric materials
polymeric materials; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Węglik krzemu - nowy materiał mikroelektroniki
Autorzy:: Lisik, Z.
Stojek, H.
Data publikacji:: 1998
Słowa kluczowe:: węglik krzemu
SiC
przerwa energetyczna
mikroelektronika
silicon carbide
energy band gap
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Electronics, microelectronics, nanoelectronics...
Autorzy:: Mizsei, János (1952- )
Współwytwórcy:: Lappalainen, Jyrki
Data publikacji:: 2014
Tematy:: Nanoelektronika
Mikroelektronika; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Wpływ najnowszych osiągnięć mikroelektroniki oraz nanotechnologii na bezpieczeństwo procesów przemysłowych
Autorzy:: Nowrot, A.
Joostberens, J.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: nanotechnologia
czujniki
mikroelektronika
nanotechnology
sensors
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Plasma deposition and etching of carbon layers for microelectronics
Autorzy:: Galazka M.
Szmidt J.
Werbowy A.
Tematy:: plasma deposition
thin carbon layer
plasma etching
microelectronics
aluminium mask
carbon layer; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
Spectral Range of IR Camera for Research in Microelectronics
Autorzy:: Błąd, G.
Wałach, T.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: termografia
mikroelektronika
niepewność
infrared thermography
microelectronics
uncertainty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Strength analysis of solder joints used in microelectronics packaging
Autorzy:: Wymysłowski, Artur
Jankowski, Krystian
Data publikacji:: 2020
Słowa kluczowe:: microelectronics
solder alloys
reliability
damage accumulation
mikroelektronika
stopy lutownicze
niezawodność
kumulacja uszkodzeń; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Zastosowanie termowizji w badaniach nieniszczących i w mikroelektronice
Application of Thermography in Non Destructive Testing and microelectronics
Autorzy:: Więcek, B. [et al.]
Data publikacji:: 2002
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: termowizja
badania nieniszczące
mikroelektronika
nondestructive testing
thermography
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: Elektronika dzisiaj i jutro
Autorzy:: Kos, A.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: elektronika
mikroelektronika
nanoelektronika
electronics
microelectronics
nanoelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Zastosowanie termowizji w badaniach nieniszczących i w mikroelektronice
Autorzy:: Więcek, B.
Lis, M.
Zwolenik, S.
Danych, R.
Wajman, T.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: termowizja
badania nieniszczące
mikroelektronika
nondestructive testing
thermography
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Nowoczesna mikroelektronika jako sprzętowe oblicze technik informacyjnych
Autorzy:: Łuba, T.
Zbierzchowski, B.
Jóźwiak, L.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
techniki informacyjne
ASIC
układy reprogramowalne
microelectronics
information technologies
programmable devices; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki
Autorzy:: Jakubowski, A.
Łukasiak, L.
Szczepański, P.
Beck, R.
Galwas, B.
Kuźmicz, W.
Malinowski, M.
Szmidt, J.
Woźnicki, J.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
optoelektronika
fotonika
mikrosystemy
microelectronics
optoelectronics
photonics
microsystems; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Czochralski-grown silicon crystals for microelectronics
Autorzy:: Bukowski, Andrzej (chemik)
Data publikacji:: 2013
Tematy:: Fizyka
Kryształy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Nanomesstechnik – Nanomessmaschinen
Autorzy:: Jager, G.
Manske, E.
Hausotte, T.
Buchner, H.-J.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: nanotechnologia
mikroelektronika
mikrotechnika
nanotechnology
microelectronics
microtechnics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Transistors today - after 50 years in microelectronics
Autorzy:: Boratyński, B.
Data publikacji:: 2002
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:: Wpływ najnowszych osiągnięć mikroelektroniki oraz nanotechnologii na bezpieczeństwo procesów przemysłowych
The influence of recent microelectronics and nanotechnology research for industrial processes safety
Autorzy:: Nowrot, A.
Joostberens, J.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Politechnika Śląska. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
Tematy:: nanotechnologia
czujniki
mikroelektronika
nanotechnology
sensors
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:: Elektronomikroskopowe badania nanostrukturalnychj warstw na bazie fullerenu i palladu
Autorzy:: Kozłowski, M.
Dłużewski, P.
Czerwosz, E.
Nietubyć, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
warstwy nanostrukturalne
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Miniaturisation : enabling technology for the new millennium
Autorzy:: Razeghi, M.
Mohseni, H.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: microelectronics
nanoelectronics
type II superlattices
QWIP
quantum dots; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:: Znaczenie mikroelektroniki dla Czwartej Rewolucji Przemysłowej i cyberbezpieczeństwa
Autorzy:: Szynka, J.
Pilch, M.
Dumania, P.
Grabiec, P.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: czwarta rewolucja przemysłowa
cyberbezpieczeństwo
mikroelektronika
Fourth Industrial Revolution
cybersecurity
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:: Strength analysis of solder joints used in microelectronics packaging
Badania wytrzymałości połączeń lutowanych stosowanych w montażu w mikroelektronice
Autorzy:: Wymysłowski, Artur
Jankowski, Krystian
Data publikacji:: 2020
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:: microelectronics
solder alloys
reliability
damage accumulation
mikroelektronika
stopy lutownicze
niezawodność
kumulacja uszkodzeń; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 26.

Tytuł:: CMOS evolution. Development limits
Autorzy:: Jakubowski, A.
Łukasiak, L.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: CMOS
scaling
silicon microelectronics
silicon-on-insulator
SOI
strained silicon; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 27.

Tytuł:: Growth of pentacene films investigated by LEEM and STM
Autorzy:: Sadowski, J. T.
Al-Mahboob, A.
Nishihara, T.
Fujikawa, Y.
Thayer, G. E.
Tromp, R. M.
Sakurai, T.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroelektronika
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 28.

Tytuł:: Czochralski-Grown Silicon Crystals for Microelectronics
Autorzy:: Bukowski, A.
Data publikacji:: 2013-08
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 81.10.Fq
85.40.-e; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 29.

Tytuł:: Od ISHM do IMAPS : 30 lat działalności
Autorzy:: Bukat, K.
Data publikacji:: 1998
Słowa kluczowe:: Międzynarodowe Stowarzyszenie Mikroelektroniki Hybrydowej
IMAPS
ISHM International Society for Hybrid Microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 30.

Tytuł:: Mikroinżynieria powierzchni w mikroelektronice próżniowej
Autorzy:: Górecka-Drzazga, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: mikroelektronika próżniowa
polowe źródło elektronów
mikroemiter polowy
matryca emiterów polowych
vacuum microelectronics
field-emission electron source
field microemitter
field-emission array; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 31.

Tytuł:: Comparison of microwave performances for sub-quarter micron fully- and partially-depleted SOI MOSFETs
Autorzy:: Goffioul, M.
Dambrine, G.
Vanhoenacker, D.
Raskin, J.P.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: microelectronics
microwave devices
SOI MOSFET; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 32.

Tytuł:: International Journal of Microelectronics and Computer Science
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Politechnika Łódzka
Dostawca treści:: Arianta

Czasopismo

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 33.

Tytuł:: Design and simulation of integrated vibration and acceleration sensors
Autorzy:: Szaniawski, K.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: czujnik
wibracja
mikroelektronika
akcelerometr
sensor
vibration
accelerometer
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 34.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1985 nr 4(52)
Amorficzny krzem w mikroelektronice
Materiały Elektroniczne 4(52)/1985
Amorficzny krzem w mikroelektronice = Amorphous silicon in microelectronics
Autorzy:: Pietruszko Stanisław
Data publikacji:: 1985
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: mikrostruktura
Elektronika - czasopismo - materiały
microelectronics
Materiały elektroniczne
Electronic materials
amorphous silicon
krzem amorficzny
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 35.

Tytuł:: Direct extraction techniques of microwave small-signal model and technological parameters for sub-quarter micron SOI MOSFETs
Autorzy:: Goffioul, M.
Vanhoenacker, D.
Raskin, J.P.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: microelectronics
microwave devices
SOI MOSFET; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 36.

Tytuł:: Wpływ otoczenia na pomiary emisyjności układów mikroelektronicznych
Autorzy:: Błąd, G.
Wałach, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: podczerwień
termowizja
emisyjność
mikroelektronika
infrared
thermal imaging
emissivity
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 37.

Tytuł:: Tematyka telekomunikacji w kształceniu i pracach badawczych prowadzonych przez Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej
Autorzy:: Galwas, B.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: radiotechnika
optoelektronika
projekty badawcze
programy kształcenia
microelectronics
optoelectronic
research and education projests; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 38.

Tytuł:: Unstable inverse heat transfer problems in microelectronics
Autorzy:: De Mey, Gilbert (1947- )
Współwytwórcy:: Bogusławski, B.
Kos, Andrzej (1954- )
Data publikacji:: 2013
Tematy:: Elektronika; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 39.

Tytuł:: Nowe konstrukcje wielowiązkowych lamp elektronowych dużej mocy dla potrzeb elektroniki mikrofalowej
Autorzy:: Sobański, J.
Czarczyński, W.
Fabich, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: kody syntetyczne
techniki próżni
mikroelektronika
vacuum technology
synthetic code
microelectronics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 40.

Tytuł:: 45 lat działalności Przemysłowego Instytutu Elektroniki
Autorzy:: Badźmirowski, K
Gonera, M.
Turczyński, J.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: Przemysłowy Instytut Elektroniki
przemysł mikroelektroniczny
Industrial Institute of Electronics
microelectronics industry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 41.

Tytuł:: Characterization of SOI fabrication process using gated-diode measurements and TEM studies
Autorzy:: Gibki, J.
Kątcki, J.
Ratajczak, J.
Łukasik, L.
Jakubowski, A.
Tomaszewski, D.
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: microelectronics
SOI technology
characterization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 42.

Tytuł:: Mikroelektroniczna technika hybrydowa : kreowanie badań i rozwoju w lokalnej skali
Autorzy:: Kalita, W.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: transfer technologii
mikroelektroniczna technologia hybrydowa
kompatybilność elektromagnetyczna
radiowa identyfikacja obiektów
technology transfer
microelectronics hybrid technology
electromagnetic compatibility
frequency radio identification; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 43.

Tytuł:: Modeling of properties of multilayer inductances fabricated in different microelectronics technologies
Współwytwórcy:: Potencki, Jerzy
Pilecki, Mariusz
Tomaszewski, Grzegorz
Data publikacji:: 2014
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 44.

Tytuł:: Jak powstają te maleństwa?
Autorzy:: Sulima, R.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: miniaturyzacja
mikroelektronika
fotolitografia
nanolitografia
elektronolitografia
rentgenolitografia
litografia
miniaturization
microelectronics
photolithography
nanolithography
electron-beam lithography
X-ray lithography
lithography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 45.

Tytuł:: Application of Genetic Algorithm to Determine Thermal Properties of Microelectronic Layered Structures
Autorzy:: Arsoba, R.
Suszyński, Z.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: genetic algorithm
inverse problem
microelectronics
thermal properties
layered structure; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 46.

Tytuł:: Transistors today - after 50 years in microelectronics
Autorzy:: Boratyński, Bogusław
Współwytwórcy:: Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Data publikacji:: 2002
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 47.

Tytuł:: Deposition conditions and corrosion characteristics of galvanic silver coatings for microelectronics
Autorzy:: Bersirova, O.
Współwytwórcy:: Kublanovsky, V.
Królikowski, A.
Data publikacji:: 2002
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 48.

Tytuł:: Prognoza rozwoju metod projektowania układów analogowo-cyfrowych z magistralą diagnostyczną
Autorzy:: Gonera, M.
Data publikacji:: 1998
Słowa kluczowe:: układy analogowo-cyfrowe
magistrala diagnostyczna
uszkodzenia mikroelektroniczne
matches analog-digital
diagnostic rout
microelectronics damages; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 49.

Tytuł:: Mikroelektronika próżniowa
Autorzy:: Górecka-Drzazga, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: mikroelektronika próżniowa
matryca emiterów polowych
polowy emiter krzemowy
płaskie wyświetlacze polowe
emitery polowe z nanorurek węglowych
vacuum microelectronics field-emission array
silicon field-emitter
field emission display
carbon nanotube field-emitter; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 50.

Tytuł:: Understanding of wet and alternative particle removal processes in microelectronics : theoretical capabilities and limitations
Autorzy:: Tardif, François
Współwytwórcy:: Danel, Adrien
Raccurt, Olivier
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "microelectronics" wg kryterium: Wszystkie pola