Temat: mikroskopia sil atomowych

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-10 z 176

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badania wyrobów z tworzyw sztucznych za pomocą mikroskopii sił atomowych na przykładzie polisiarczku fenylenu
Autorzy:: Jurga, J.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: tworzywa sztuczne
mikroskopia sił atomowych
polisiarczek fenylenu; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń
Autorzy:: Woszczyna, M.
Masalska, A.
Kolanek, K.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
rezonator piezoelektryczny
AFM
tuning fork; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Charakteryzacja wiązania w układzie białko-lek metodą spektroskopii sił atomowych: wstępne wyniki.
Characterization of a protein-drug bond by means of atomic force spectroscopy: preliminary results
Autorzy:: Szczerbiński, Jacek
Słowa kluczowe:: -
oddziaływanie białko-lek, DL76, albumina, mikroskopia sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Makroskopowy model mikroskopu sił atomowych w zaawansowanej pracowni fizycznej
Autorzy:: Greczyło, T.
Dębowska, E.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
pracownia fizyczna
atomic force microscopy (AFM)
physics laboratory; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Autorzy:: Ziębowicz, B.
Staszuk, M.
Jarka, P.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
analiza powierzchni
atomic force microscopy
surface analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Zmiany mikrostruktury w n-Si (111) podczas elektrochemicznego trawienia w warunkach braku iluminacji i w potencjale obwodu otwartego
Autorzy:: Jakubowicz, J.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: krzem
obróbka elektrochemiczna
mikrostruktura
mikroskopia sił atomowych
trawienie elektrochemiczne
morfologia powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych - nowa jakość pomiarów
Atomic force microscopy - new quality of measurements
Autorzy:: Rozniatowski K.
Rebis J. A.
Tematy:: mikroskopia sil atomowych
nanostruktury
pomiary
sonary skanujace
modyfikacja
dokladnosc pomiaru
mikroskop sil atomowych
mikroskop Veeco; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Modularny mikroskop tunelowy i sił atomowych do badań własności elektrycznych nanostruktur
Autorzy:: Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Radojewski, J.
Sankowska, A.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
diagnostyka powierzchni
shear force microscopy
current emission; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Roble
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w ocenie stopnia anizotropii mikrostruktury
Autorzy:: Bramowicz, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: mikroskopia sond skanujących (SPM)
mikroskopia sił atomowych
metodyka określania stopnia anizotropii
normalizacja powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 176

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat