Temat: mikroskopia sil atomowych

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badania wyrobów z tworzyw sztucznych za pomocą mikroskopii sił atomowych na przykładzie polisiarczku fenylenu
Autorzy:: Jurga, J.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: tworzywa sztuczne
mikroskopia sił atomowych
polisiarczek fenylenu; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń
Autorzy:: Woszczyna, M.
Masalska, A.
Kolanek, K.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
rezonator piezoelektryczny
AFM
tuning fork; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Charakteryzacja wiązania w układzie białko-lek metodą spektroskopii sił atomowych: wstępne wyniki.
Characterization of a protein-drug bond by means of atomic force spectroscopy: preliminary results
Autorzy:: Szczerbiński, Jacek
Słowa kluczowe:: -
oddziaływanie białko-lek, DL76, albumina, mikroskopia sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Makroskopowy model mikroskopu sił atomowych w zaawansowanej pracowni fizycznej
Autorzy:: Greczyło, T.
Dębowska, E.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
pracownia fizyczna
atomic force microscopy (AFM)
physics laboratory; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Autorzy:: Ziębowicz, B.
Staszuk, M.
Jarka, P.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
analiza powierzchni
atomic force microscopy
surface analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Zmiany mikrostruktury w n-Si (111) podczas elektrochemicznego trawienia w warunkach braku iluminacji i w potencjale obwodu otwartego
Autorzy:: Jakubowicz, J.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: krzem
obróbka elektrochemiczna
mikrostruktura
mikroskopia sił atomowych
trawienie elektrochemiczne
morfologia powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych - nowa jakość pomiarów
Atomic force microscopy - new quality of measurements
Autorzy:: Rozniatowski K.
Rebis J. A.
Tematy:: mikroskopia sil atomowych
nanostruktury
pomiary
sonary skanujace
modyfikacja
dokladnosc pomiaru
mikroskop sil atomowych
mikroskop Veeco; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Modularny mikroskop tunelowy i sił atomowych do badań własności elektrycznych nanostruktur
Autorzy:: Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Radojewski, J.
Sankowska, A.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
diagnostyka powierzchni
shear force microscopy
current emission; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Roble
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w ocenie stopnia anizotropii mikrostruktury
Autorzy:: Bramowicz, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: mikroskopia sond skanujących (SPM)
mikroskopia sił atomowych
metodyka określania stopnia anizotropii
normalizacja powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Interaction of magnetic nanoparticles with lyotropic liquid crystal studied by AFM
Współwytwórcy:: Hwang, Ing-Shouh. Autor
Hu, Chin-Kun. Autor
Balejčíková, Lucia. Autor
Kopčanský, Peter. Autor
Yang, Chih-Wen. Autor
Hayryan, Shura. Autor
Kubovčíková, Martina. Autor
Tomašovičová, Natália. Autor
Gdovinová, Veronika. Autor
Data publikacji:: 2017
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Kryształy ciekłe
Nanomateriały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Ocena parametrów metrologicznych mikromechanicznych dźwigni piezorezystywnych
Autorzy:: Woszczyna, M.
Janus, P.
Grabiec, P.
Kolek, A.
Gotszalk, T.
Rangelow, I. W.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: dźwignia piezorezystywna
mikroskopia sił atomowych
nanotechnologia
piezoresistive cantilever
atomic force microscopy (AFM)
nanotechnology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych z zastosowaniem matryc mikrodźwigni sprężystych
Autorzy:: Zawierucha, P.
Zielony, M.
Kopiec, D.
Woszczyna, M.
Sarov, Y.
Frank, A.
Ivanov, T.
Zöllner, J. P.
Rangelow, I. W.
Gotszalk, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
matryca dźwigni
topografia
atomic force microscopy (AFM)
cantilever array
topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Proby zastosowania skaningowej mikroskopii tunelowej i mikroskopii sil atomowych do badania porowatych materialow weglowych
Autorzy:: Babel K.
Czajka R.
Gordon W.
Tematy:: materialy weglowe
mikroskopia sil atomowych
metody badan
wlokna weglowe aktywne
mikroskopia skaningowa tunelowa
folie weglowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Evaluation of differences between Fe₃O₄ micro- and nanoparticles properties
Autorzy:: Duragina, Zoâ. Autor
Współwytwórcy:: Kulik, Volodimir Volodimirovič. Autor
Tepla, Tetâna Leonìdìvna. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Mikrostruktura
Właściwości magnetyczne
Tlenki żelaza; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
Autorzy:: Zembrzycki, K.
Pawłowska, S.
Nakielski, P.
Pierini, F.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
Tematy:: optical tweezers
atomic force microscopy (AFM)
AFM/OT
mikroskopia sił atomowych
szczypce optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Integrated thermal probe for SThM investigation of micro- and nanoelectronic devices
Autorzy:: Janus, P.
Szmigiel, D.
Wielgoszewski, G.
Weisheit, M.
Ritz, Y.
Grabiec, P.
Hecker, M.
Gotszalk, T.
Sulecki, P.
Zschech, E.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
skanująca sonda termiczna
atomic force microscopy (AFM)
Scanning Thermal Probe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:: Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
Autorzy:: Zembrzycki, K.
Pawłowska, S.
Nakielski, P.
Pierini, F.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: optical tweezers
atomic force microscopy (AFM)
AFM/OT
mikroskopia sił atomowych
szczypce optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:: Nanomiernictwo mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Gotszalk, T.
Radojewski, J.
Szeloch, R.
Marendziak, A.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Grabiec, P.
Janus, P.
Rangelow, I.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia bliskich oddziaływań
mikroskopia sił atomowych
nanomiernictwo
scanning probe microscopy
atomic force microscopy (AFM)
nanometrology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Detection of biogenic magnetic nanoparticles in human aortic aneurysms
Współwytwórcy:: Lazarenko, O. M. Autor
Gorobec, Oksana. Autor
Darmenko, Êvgenìâ Anatolìïvna. Autor
Šaraj, Ìrina Vìktorìvna. Autor
Gorobec, Svìtlana Vasilìvna. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Biogenic magnetic nanoparticles (BMN)
Tętniak aorty
Mikroskopia sił magnetycznych (MFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:: Ocena własności biomechanicznych DNA origami
Assessment of biomechanical properies of DNA origami
Autorzy:: Adamiak, Martyna
Słowa kluczowe:: Nanomedicine, DNA origami, Biomechanics, Atomic Force Microscopy
Nanomedycyna, DNA origami, Biomechanika, Mikroskopia Sił Atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:: Mikroskopia bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
badanie materiałów
badanie struktury
atomic force microscopy (AFM)
materials testing
structure examination; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 26.

Tytuł:: Applications of scanning probe microscopy for studying of interfacial thermodynamics and kinetics
Autorzy:: Rabkin, E.
Amouyal, Y.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: dyfuzja na migrujących granicach ziaren
mikroskopia sił atomowych
diffusion along moving grain boundaries
scanning microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 27.

Tytuł:: Evaluation of changes in mouse aortic morphology by microscopic methods
Ocena zmian morfologii aorty mysiej metodami mikroskopowymi
Autorzy:: Trubas, Aleksandra
Słowa kluczowe:: mice aorta, scanning electron microscopy, atomic force microscopy, fluorescence microscopy
aorta mysia, skaningowa mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych, mikroskopia fluorescencyjna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 28.

Tytuł:: Magnetic force microscopy of the ethmoid bones of migratory and non-migratory fishes
Współwytwórcy:: Gorobec, Oksana. Autor
Šaraj, Ìrina Vìktorìvna. Autor
Bulaêvsʹka, Marina Oleksandrìvna. Autor
Gorobec, Svìtlana Vasilìvna. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Kości
Czaszka
Mikroskopia sił magnetycznych (MFM)
Ryby
Biogenic magnetic nanoparticles (BMN); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 29.

Tytuł:: Optical properties of LiNbO₃-Ag nanocomposites
Współwytwórcy:: Vakiv, Mikola Mihajlovič. Autor
Bolesta Ivan. Autor
Demčuk, Antonìna Oleksandrìvna. Autor
Nastišin, Svâtoslav Ûrìjovič. Autor
Kušnìr, Oleksìj Oleksandrovič. Autor
Gamernik, Roman Vasilʹovič. Autor
Gajdučok, V. G. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Niobian litu
Właściwości optyczne
Srebro
Nanokompozyty; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 30.

Tytuł:: Piezorezystywna nanosonda AFM/SThM do badań termicznych w nanoskali
Autorzy:: Janus, P.
Szmigiel, D.
Domański, K.
Grabiec, P.
Sierakowski, A.
Gotszalk, T.
Rudek, M.
Kopiec, D.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: nanometrologia
Mikroskopia Sił Atomowych
Skaningowa Mikroskopia Termiczna
czujniki piezorezystywne
nanometrology
atomic force microscopy
scanning thermal microscopy
resistive sensors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 31.

Tytuł:: Zastosowanie mikroskopii sił atomowych i magnetycznego rezonansu jądrowego w technologii wytwarzania kompozytów polimerowych
Autorzy:: Jurga, J.
Bula, K.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
magnetyczny rezonans jądrowy
kompozyty polimerowe
atomic force microscopy (AFM)
NMR spectroscopy
composite; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 32.

Tytuł:: Microstructured biodegradable polymer layers
Mikrostrukturyzowane polimerowe powierzchnie biodegrodowalne
Autorzy:: Szydlak, Renata
Słowa kluczowe:: biodegradable polymers, contact angle, atomic force microscopy AFM
polimery biodegradowalne, kąt zwilżania, mikroskopia sił atomowych AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 33.

Tytuł:: Mikroskopowa i spektroskopowa charakteryzacja skoniugowanych szczotek polimerowych szczepionych z powierzchni
Microscopic and spectroscopic characterizations of conjugated surface-grafted polymer brushes
Autorzy:: Fiocco, Alice
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy, ellipsometry, polymer brushes, SI-ATRP
mikroskopia sil atomowych, elipsometria, szczotki polimerowe, SI-ATRP; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 34.

Tytuł:: Zastosowanie mikroskopu sił atomowych w badaniach materiałów stomatologicznych
Autorzy:: Ziębowicz, Bogusław
Ziębowicz, Anna
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: materiały stomatologiczne
topografia implantów stomatologicznych
mikroskopia sił atomowych
dental materials
dental implants topography
atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 35.

Tytuł:: Comparison of the structure and topography of selected low friction thin films
Autorzy:: Paradecka, A.
Lukaszkowicz, K.
Kříž, A.
Potempa, R.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: low friction thin films
DLC
TiC
AFM
Raman spectroscopy
structure
mikroskopia sił atomowych
spektroskopia ramanowska
struktura; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 36.

Tytuł:: Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach nad formowaniem powierzchni krzemowych ogniw słonecznych
Autorzy:: Waczyński, K.
Filipowski, W.
Panek, P.
Drabczyk, K.
Olechowska, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
krzem porowaty
teksturyzacja krzemu
struktury fotowoltaiczne
silicon surface
photovoltaic structure
solar cell
AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 37.

Tytuł:: Ion beam induced surface modification of ta-C thin films
Współwytwórcy:: Böttger, Roman (1987- ). Autor
Sandulov, Maksim. Autor
Cvetkova, Tanâ. Autor
Bischoff, Lothar. Autor
Berova, Mariâ. Autor
Kitova Snežana Milanova. Autor
Data publikacji:: 2017
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Węgiel (pierwiastek)
Cienkie warstwy (technika)
Implantacja jonów; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 38.

Tytuł:: The influence of terpenes on human Stratum corneum by fluorescence microscopy, atomic force microscopy and scanning electron microscopy
Współwytwórcy:: Stefanowska, Justyna. Autor
Planinsek, Odon. Autor
Govedarica, Biljana. Autor
Cal, Krzysztof Jerzy. Autor
Srčič, Stane. Autor
Dębowska, Renata. Autor
Bazela, Karolina. Autor
Data publikacji:: 2017
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Terpeny
Skóra (anatomia)
Mikroskopia fluorescencyjna
Wpływ na zdrowie
Skaningowa mikroskopia elektronowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 39.

Tytuł:: Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images
Autorzy:: Weszka, J.
Szindler, M.
Śliwa, A.
Hajduk, B.
Jurusik, J.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
skaningowy mikroskop elektronowy
oprogramowanie WSxM
atomic force microscope
scanning electron microscope
WSxM software; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 40.

Tytuł:: Charakterystyka nanostrukturalna materiału genetycznego do zastosowania w terapii genowej
Nanostructural characteristics of genetic material for gene therapy application
Autorzy:: Duda, M.
Frączkowska, K.
Przybyło, M.
Kopaczyńska, M.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki. Katedra Inżynierii Biomedycznej
Tematy:: kondensacja DNA
spermidyna
terapia genowa
mikroskopia sił atomowych
DNA condensation
spermidine
gene therapy
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 41.

Tytuł:: Charakterystyka nanostrukturalna materiału genetycznego do zastosowania w terapii genowej
Autorzy:: Duda, M.
Frączkowska, K.
Przybyło, M.
Kopaczyńska, M.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: kondensacja DNA
spermidyna
terapia genowa
mikroskopia sił atomowych
DNA condensation
spermidine
gene therapy
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 42.

Tytuł:: Assessment of the possibilities of using atomic force microscopy (AFM) for characterisation of polymeric nanofiltration membrane surfaces
Autorzy:: Kowalik-Klimczak, A.
Gierycz, P.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
nanofiltration
polymeric membranes
surface roughness
mikroskopia sił atomowych
nanofiltracja
membrany polimerowe
chropowatość powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 43.

Tytuł:: Estimation of shape of AFM tip with “Cross-Forrest” calibration standard
Autorzy:: Jóźwiak, G.
Moczała-Dusanowska, M.
Gajewski, K.
Sierakowski, A.
Wójcicki, P.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy
blind tip reconstruction
calibration standard
mikroskopia sił atomowych
ślepa rekonstrukcja
kształt ostrza
struktura kalibracyjna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 44.

Tytuł:: Metody charakteryzacji grafenu wykorzystywanego w sensorowych układach rezystancyjnych
Autorzy:: Drewniak, S.
Pustelny, T.
Strupiński, W.
Pasternak, I.
Opilski, Z.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: grafen
sensory gazowe
Mikroskopia Sił Atomowych
spektroskopia ramanowska
graphene
gas sensors
atomic force microscopy (AFM)
Raman spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 45.

Tytuł:: System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
techniki pomiarowe
przetwarzanie sygnałów
atomic force microscopy (AFM)
measurement techniques
signal processing
harmonic analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 46.

Tytuł:: Microstructure and thermally stimulated luminescence of β-Ga₂O₃ thin films
Współwytwórcy:: Kuhars'kij, Ì. J. Autor
Bordun, O. M. Autor
Bordun, B. O. Autor
Medvid, I. I. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Luminescencja
Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Tlenek gadolinu (III)
Mikrostruktura
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 47.

Tytuł:: Residual stress in Cr₉₉Al₁ polycrystalline thin films
Współwytwórcy:: Ntsoane, Tshepo P. Autor
Fullerton, Eric E. Autor
Mudau, Z. P. Autor
Prinsloo, Aletta R. E. Autor
Venter, Andrew M. Autor
Sheppard, Charles J. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Naprężenia i odkształcenia
Krystalografia rentgenowska
Polikryształy
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 48.

Tytuł:: Surface analysis of long-term hemodialysis catheters made of carbothane (poly(carbonate)urethane) before and after implantation in the patients’ bodies
Autorzy:: Nycz, M.
Paradowska, E.
Arkusz, K.
Kudliński, B.
Krasicka-Cydzik, E.
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:: chropowatość powierzchni
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia skaningowa
surface roughness
atomic force microscopy
scanning electron microscopy
Catheter-tissue contact
film; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 49.

Tytuł:: Surface analysis of long-term hemodialysis catheters made of carbothane (poly(carbonate)urethane) before and after implantation in the patients’ bodies
Autorzy:: Nycz, M.
Paradowska, E.
Arkusz, K.
Kudliński, B.
Krasicka-Cydzik, E.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: chropowatość powierzchni
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia skaningowa
surface roughness
atomic force microscopy
scanning electron microscopy
Catheter-tissue contact
film; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 50.

Tytuł:: Badanie cienkich warstw grafitu otrzymanych metodą eksfoliacji
Study of thin graphite layers obtained by exfoliation method
Autorzy:: Bodek, Łukasz
Słowa kluczowe:: grafit, grafen, AFM, eksfoliacja, AFM, mikroskopia sił atomowych
graphite, graphene, AFM, atomic force microscopy, AFM, exfoliation method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat