Wszystkie pola: Cu/Ni multilayers

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Hardness and texture of Cu/Ni multilayers differing in Ni sublayer thickness
Autorzy:: Kulej, Edyta
Współwytwórcy:: Kanak, Jarosław
Kucharska, Barbara
Politechnika Częstochowska. Wydział Inżynierii Produkcji i Technologii Materiałów. Instytut Inżynierii Materiałowej
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
Data publikacji:: 2011
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Hardness and texture of Cu/Ni multilayers differing in Ni sublayer thickness
Autorzy:: Kulej, E.
Kucharska, B.
Kanak, J.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: wielowarstwy Cu/Ni
tekstura
nanotwardość
Cu/Ni multilayers
texture
nanohardness; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Research on the texture of Cu/Ni multilayers with a diversified period thickness
Współwytwórcy:: Witkowska, Małgorzata
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
Kucharska, Barbara (elektroenergetyka)
Nitkiewicz, Zygmunt
Politechnika Częstochowska. Wydział Inżynierii Procesowej, Materiałowej i Fizyki Stosowanej. Instytut Inżynierii Materiałowej
Kulej, Edyta
Data publikacji:: 2010
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Electrochemical synthesis and structural properties of Cu/Ni multilayers
Autorzy:: Tokarz, A.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: osadzanie elektrolityczne
warstwa wielocząsteczkowa
stop
nadstruktura
electrodeposition
multilayers
compositionally modulated alloys
superlattices; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Research on the texture of Cu/Ni multilayers with a diversified period thickness
Autorzy:: Kucharska, B.
Kulej, E.
Witkowska, M.
Nitkiewicz, Z.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: wielowarstwy
tekstura
funkcja rozkładu orientacji
dyfraktometria rentgenowska
magnetronowe rozpylanie
multilayers
texture
orientation distribution function
X-ray diffractometry
magnetron sputtering; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy
Autorzy:: Kucharska, Barbara
Współwytwórcy:: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji. Katedra Elektroniki
Kanak, Jarosław
Kulej, Edyta
Politechnika Częstochowska. Wydział Inżynierii Produkcji i Technologii Materiałów. Instytut Inżynierii Materiałowej
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy
Autorzy:: Kucharska, B.
Kulej, E.
Kanak, J.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: multilayers Cu/Ni
X-ray reflectometry (XRR)
atomic force microscopy (AFM)
roughness; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Research into the relationship between the surface topography, texture and mechanical properties of PVD-Cu/Ni multilayers
Autorzy:: Kucharska, B.
Kulej, E.
Pyka, G.
Kanak, J.
Stobiecki, T.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: Cu/Ni multilayers
thermal stability
X-ray diffraction
texture
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Evaluation of the temperature stability of a Cu/Ni multilayer
Autorzy:: Kucharska, B.
Kulej, E.
Gwoździk, M.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: wielowarstwa Cu/Ni
trwałość
stabilność temperaturowa
Cu/Ni multilayers
X-ray diffraction
texture
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Evaluation of the temperature stability of a Cu/Ni multilayer
Ocena trwałości temperaturowej wielowarstwy Cu/Ni
Autorzy:: Kucharska, B.
Kulej, E.
Gwoździk, M.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: wielowarstwa Cu/Ni
trwałość
stabilność temperaturowa
Cu/Ni multilayers
X-ray diffraction
texture
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Cu/Ni multilayers" wg kryterium: Wszystkie pola