Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Cu/Ni multilayers" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-23 z 23
Tytuł:
Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy
Autorzy:
Kucharska, Barbara
Współwytwórcy:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji. Katedra Elektroniki
Kanak, Jarosław
Kulej, Edyta
Politechnika Częstochowska. Wydział Inżynierii Produkcji i Technologii Materiałów. Instytut Inżynierii Materiałowej
Data publikacji:
2009
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
    Wyświetlanie 1-23 z 23

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies