Wszystkie pola: Elipsometria

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Technika elipsometrii spektroskopowej jako metoda monitorowania jakości powierzchni materiałów grupy SrxBa1-xNb2O6
Autorzy:: Dorywalski, K.
Patryn, A.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: elipsometria
elipsometria spektroskopowa
chropowatość powierzchni
SBN
ellipsometry
spectroscopic ellipsometry
surface roughness; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Elipsometria spektroskopowa kryształów ferroelektrycznych w nadfiolecie próżniowym
Autorzy:: Andriyevsky, Bohdan
Współwytwórcy:: Ciepluch-Trojanek, Wioleta
Patryn, Aleksy
Data publikacji:: 2009
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Elipsometria spektroskopowa kryształów ferroelektrycznych w nadfiolecie próżniowym
Spectroscopic ellipsometry of the ferroelectric crystals in the vacuum ultraviolet
Autorzy:: Andriyevsky, B.
Patryn, A.
Ciepluch-Trojanek, W.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Politechnika Koszalińska. Wydawnictwo Uczelniane
Tematy:: kryształy ferroelektryczne
funkcja dielektryczna
elipsometria
nadfiolet próżniowy
promieniowanie synchrotronowe
ferroelectric crystals
dielectric function
ellipsometry
vacuum ultraviolet
synchrotron radiation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: New designs for graded refractive index antireflection coatings
Autorzy:: Mahdjoub, A.
Zighed, L.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: warstwa przeciwodblaskowa
elipsometria
współczynnik załamania światła
AR coatings
ellipsometry
graded refractive index; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Elipsometria spektroskopowa kryształów ferroelektrycznych w nadfiolecie próżniowym
Autorzy:: Andriyevsky, B.
Patryn, A.
Ciepluch-Trojanek, W.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: kryształy ferroelektryczne
funkcja dielektryczna
elipsometria
nadfiolet próżniowy
promieniowanie synchrotronowe
ferroelectric crystals
dielectric function
ellipsometry
vacuum ultraviolet
synchrotron radiation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Studies of silver diffusion into soda-lime glass using analysis of plasmon evolution
Autorzy:: Nocuń, Marek
Środa, Marcin
Jedliński, Jerzy
Lipień, Krzysztof
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: glass
silver
diffusion
ellipsometry
szkło
dyfuzja
elipsometria
srebro; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Application of a biosensor based on SPR using spectroscopic ellipsometer
Autorzy:: Bombarová, K.
Chlpík, J.
Cirák, J.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: SPR
ellipsometry
TIRE
biosensor
elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Przemiany grup chromoforowych w polimerach metakrylowych pod wpływem światła i pola elektrycznego
Autorzy:: Kucharski, S.
Janik, R.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: polimery fotochromowe
modulacja współczynnika refrakcji
polimery metakrylowe
elipsometria
polymres
ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Ellipsometry in optical studies of thin films conducted at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology
Autorzy:: Żukowska, K.
Oleszkiewicz, E.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: powłoki
elipsometria
stałe optyczne
pomiar grubości
cienka warstwa
coatings
ellipsometry
optical constants
thickness measurement
thin films; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Evaluation of thin Ta(N) film integrity deposited on porous glasses
Autorzy:: Shamiryan, D.
Baklanov, M. R.
Yanovitskaya, A. V.
Zverev, A. V.
Tőkei, Z.
Iacopi, F.
Maex, K.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: szkło porowate
bariera dyfuzyjna
elipsometria
porous glass
low-k dielectric
diffusion barrier
ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Strukturalne i optyczne właściwości wygrzewanych cienkich warstw ZnO
Autorzy:: Ungeheuer, Katarzyna
Marszalek, Konstanty W.
Data publikacji:: 2022
Słowa kluczowe:: tlenek cynku
elipsometria spektroskopowa
zastosowanie w kosmosie
Zinc oxide
Spectroscopic ellipsometry
Space application; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Hajduk, Barbara
Jarka, Paweł
Nitschke, Paweł
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: elipsometria spektroskopowa
rozkład grubości
cienkie warstwy
badania nieniszczące
spectroscopic ellipsometry
thickness distribution
thin films
non-destructive testing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Pomiar temperatury zeszklenia metodą zmiennotemperaturowej elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Hajduk, Barbara
Jarka, Paweł
Janeczek, Henryk
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: zmiennotemperaturowa elipsometria spektroskopowa
temperatury przemian termicznych
temperatura zeszklenia
temperature swing spectroscopic ellipsometry
thermal transformation temperatures
glass transition temperature; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: Otrzymywanie powłok antyrefleksyjnych na szkle techniką zol-żel
Autorzy:: Nocuń, M.
Kwaśny, S.
Skuba, P.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: zol-żel
powłoki antyrefleksyjne
grubość
porowatość
elipsometria
sol-gel
antireflection coatings
thickness
porosity
ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Elipsometryczna metoda określania naprężeń w strukturach MOS
Autorzy:: Rzodkiewicz, W.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: naprężenia
struktura MOS
elipsometria spektroskopowa
pochodne ułamkowe
spectroscopic ellipsometry
fractional-derivative-spectrum
van Hove singularities
stress; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Elipsometryczne badania warstw aktywnych wpotrójnych organicznych ogniwach słonecznych
Autorzy:: Lewińska, Gabriela
Data publikacji:: 2022
Słowa kluczowe:: potrójne ogniwa słoneczne
organiczna fotowoltaika
cienkie warstwy
elipsometria
Ternary solar cells
Organic photovoltaics
Thin films
Ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych
Autorzy:: Skoczek, E.
Cisowski, J.
Karasiński, P.
Jaglarz, J.
Jarząbek, B.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: porowata krzemionka
metoda zol-żel
elipsometria spektroskopowa
porous silica
sol-gel method
spectroscopic ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Kinetyka zmiany współczynnika załamania światła w fotochromowych filmach polimerowych
Autorzy:: Ortyl, E.
Kucharski, S.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: zmiana współczynnika załamania światła
polimery fotochromowe
trans-cis izomeracja
elipsometria
polymeric photochromic films
kinetics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Polarisation behaviour of different fiber-optic interferometer configurations under temperature changes.
Autorzy:: Jaroszewicz, L.R.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: złączki światłowodowe
polaryzacja
polaryzacja światłowodowa
teoria światłowodów
trwałość cieplna
interferometr
elipsometria
ellipsometers
fibre optic sensor
light interference
light interferometer
optical fibre couplers
polarisation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Pomiary naprężeń w strukturach MOS metod interferencyjną i za pomocą elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Borowicz, L. K.
Borowicz, P.
Rzodkiewicz, W.
Piskorski, K.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: struktury MOS
naprężenie
interferometria
elipsometria
parametry elektryczne
Metal Oxide Semiconductor
MOS structures
stress
interferometry
ellipsometry
electrical parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:: Badanie wpływu dawki implantowanego indu na funkcję dielektryczną w implantowanych warstwach GaAs metodą elipsometrii spektralnej
Autorzy:: Kulik, M.
Rzodkiewicz, W.
Żuk, J.
Komarov, F.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: implantacja jonowa
elipsometria spektralna
współczynniki załamania i ekstynkcji
GaAs
ion implantation
spectroscopic elipsometry
refraction and extinction indices; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:: Termooptyczne właściwości warstw a-C:N:H
Autorzy:: Tkacz-Śmiech, K.
Jaglarz, J.
Pieczyńska, E.
Marszałek, K.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: warstwy a-C:N:H
PACVD
elipsometria spektroskopowa
współczynniki termooptyczne
a-C:N:H layers
ellipsometry
thermo-optical parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Surface morphology and optical properties of Al₂O₃ thin films deposited by ALD method
Autorzy:: Dobrzański, L. A.
Szindler, M.
Szindler, M.M.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: thin film
aluminum oxide
atomic force microscope
spectroscopic ellipsometry
cienka powłoka
tlenek glinu
mikroskopia sił atomowych
elipsometria spektroskopowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:: Characterization of a-C:N:H, a-SiNx:H and a-SiCx:Ny:H layers deposited on various substrates
Autorzy:: Dyndał, K.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: PACVD
amorphous layer
spectroscopic ellipsometry
optical properties
warstwy amorficzne
elipsometria spektroskopowa
właściwości optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:: Application of a biosensor based on SPR using spectroscopic ellipsometer
Zastosowanie czujnika biologicznego bazującego na powierzchniowym rezonansie plazmonu (SPR) używającego elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Bombarová, K.
Chlpík, J.
Cirák, J.
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:: SPR
ellipsometry
TIRE
biosensor
elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 26.

Tytuł:: Wybrane badania parametrów optycznych zwierciadeł aluminiowych nanoszonych metodą fizycznego naparowania z fazy gazowej
Autorzy:: Tram, Maciej
Data publikacji:: 2022
Słowa kluczowe:: elipsometria
spektrofotometria
metoda fizycznego naparowania z fazy gazowej
zwierciadła aluminiowe
ellipsometry
spectrophotometry
physical vapor deposition method
aluminum mirrors; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 27.

Tytuł:: Badania elipsometryczne cienkich warstw ZnO:Al stosowanych jako elektrody w fotowoltaice kosmicznej
Autorzy:: Dyndał, Katarzyna
Data publikacji:: 2022
Słowa kluczowe:: warstwy ZnO:Al
ALD
elipsometria spektroskopowa
właściwości optyczne
ogniwa PV
ZnO:Al layers
Spectroscopic ellipsometry
Optical properties
PV cells; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 28.

Tytuł:: Badanie właściwości optycznych warstw ditlenku tytanu otrzymywanych metodą zol-żel
Autorzy:: Tokarczyk, Katarzyna
Data publikacji:: 2023
Słowa kluczowe:: metoda zol-żel
dip-coating
warstwy ditlenku tytanu
surfaktant Pluronic F127
elipsometria
spektrofotometria
sol-gel method
titanium dioxide layers
Pluronic F127 surfactant
ellipsometry
spectrophotometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 29.

Tytuł:: Multilayer polymer films containing toroidal molybdenum oxide based structures
Wielowarstwowe filmy polielektrolitowe zawierające toroidalne struktury oparte na tlenku molibdenu
Autorzy:: Lange, Emilia
Słowa kluczowe:: polymer films, polyoxometalates, polyelectrolytes, ellipsometry
filmy polimerowe, polioksometalany, polielektrolity, elipsometria; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 30.

Tytuł:: Spectroscopic ellipsometry studies of elastic and non-elastic strains in Si-SiO2 systems
Autorzy:: Rzodkiewicz, W.
Panas, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: elipsometria spektroskopowa
układ Si-SiO2
naprężenie
gęstość
współczynnik załamania
spectroscopic ellipsometry
Si-SiO2
stress
density
refractive index; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 31.

Tytuł:: Otrzymywanie i właściwości warstw a-Si:H do zastosowań w fotowoltaice
Autorzy:: Pieczyńska, E.
Boszkowicz, P.
Jurzecka-Szymacha, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: amorficzny krzem (a-Si:H)
Plasma Assisted Chemical Vapour Deposition PACVD
PACVD
elipsometria
Amorphous silicon layers
Radio Frequency Plasma Assisted Chemical Vapour Deposition
RF PACVD
solar cells
ellipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 32.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1987 nr 2(58)
Badania elipsometryczne krzemu implantowanego fosforem = Ellipsometric studies of P+ implanted silicon
Badania elipsometryczne krzemu implantowanego fosforem
Autorzy:: Gawlik Grzegorz
Data publikacji:: 1987
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: Si
implanted silicon
Elektronika - czasopismo - materiały
ellipsometric studies
Materiały elektroniczne
Electronic materials
elipsometria
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 33.

Tytuł:: Analiza powierzchniowa nanowarstw dla zastosowań biomedycznych
Surface analysis of nanolayers for biomedical applications
Autorzy:: Bajor, Adrianna
Słowa kluczowe:: immobilizacja molekuł, mikropęcherzyki płytkowe, mikroskopia sił atomowych AFM, elipsometria
molecules immobilization, platelet-derived microparticles, atomic force microscopy AFM, elipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 34.

Tytuł:: Pomiary naprężeń w strukturach MOS metod interferencyjną i za pomocą elipsometrii spektroskopowej
Stress determination of MOS structures by interference and spectroscopic ellipsometry method
Autorzy:: Borowicz, L. K.
Borowicz, P.
Rzodkiewicz, W.
Piskorski, K.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: struktury MOS
naprężenie
interferometria
elipsometria
parametry elektryczne
Metal Oxide Semiconductor
MOS structures
stress
interferometry
ellipsometry
electrical parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 35.

Tytuł:: Badania optyczne politypów 6H-SiC oraz 15R-SiC poddanych wielokrotnej implantacji jonami glinu w podwyższonej temperaturze
Autorzy:: Kulik, M.
Żuk, J.
Rzodkiewicz, W.
Pyszniak, K.
Droździel, A.
Turek, M.
Prucnal, S.
Sochacki, M.
Szmidt, J.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: węglik krzemu
implantacja jonowa
elipsometria spektroskopowa
spektrometria mikro-ramanowska
silicon carbide
ion omplantation
spectroscopic elipsometry
micro-Raman spectrometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 36.

Tytuł:: Mikroskopowa i spektroskopowa charakteryzacja skoniugowanych szczotek polimerowych szczepionych z powierzchni
Microscopic and spectroscopic characterizations of conjugated surface-grafted polymer brushes
Autorzy:: Fiocco, Alice
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy, ellipsometry, polymer brushes, SI-ATRP
mikroskopia sil atomowych, elipsometria, szczotki polimerowe, SI-ATRP; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 37.

Tytuł:: Immobilizacja przeciwciał na podłożach krzemowych modyfikowanych silanami dla zastosowań biosensorycznych
Immobilization of antibodies on silane substrates modified for biosensor applications.
Autorzy:: Szafraniec, Klaudia
Słowa kluczowe:: TOF-SIMS, spectral elipsometry, analysis of main PCA components, rabbit polyclonal IgG
TOF-SIMS, elipsometria spektralna, analiza głównych składowych PCA, królicze poliklonalne IgG; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 38.

Tytuł:: Ellipsometry based spectroscopic complex for rapid assessment of the Bi2Te3-xSexthin films composition
Autorzy:: Kovalev, Vladimir
Uvaysov, Saygid
Bogucki, Marcin
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: thin films
optical properties
spectroscopy
Fourier transform
ellipsometry
polarimetry
optics on surfaces
instrumentation
measurement and metrology
cienka warstwa
właściwości optyczne
spektroskopia
transformata Fouriera
elipsometria
polarymetria
optyka cienkowarstwowa
oprzyrządowanie
pomiary i metrologia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 39.

Tytuł:: Ellipsometry based spectroscopic complex for rapid assessment of the Bi2Te3-xSexthin films composition
Elipsometryczny system spektroskopowy do szybkiej oceny składu cienkich warstw Bi2Te3-xSex
Autorzy:: Kovalev, Vladimir
Uvaysov, Saygid
Bogucki, Marcin
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:: thin films
optical properties
spectroscopy
Fourier transform
ellipsometry and polarimetry
optics on surfaces
instrumentation
measurement and metrology
cienka warstwa
właściwości optyczne
spektroskopia
transformata Fouriera
elipsometria i polarymetria
optyka cienkowarstwowa
oprzyrządowanie
pomiary i metrologia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 40.

Tytuł:: Analiza wpływu pH na orientację przeciwciał immobilizowanych na podłożach krzemowych
Analysis of the influence of pH on the orientation of antibodies immobilized on silicon substrates
Autorzy:: Sanocka, Karolina
Słowa kluczowe:: przeciwciała IgG, orientacja przeciwciał na powierzchni, adsorpcja fizyczna, wiązanie kowalencyjne, gęstość powierzchniowa, punkt izoelektryczny białka (pI), oddziaływania elektrostatyczne, potencjał Zeta, Elipsometria spektralna, Spektrometria masowa jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (ToF-SIMS), Spektroskopia odbiciowa światła białego (WLRS)
IgG antibodies, surface orientation of antibodies, physical adsorption, covalent bonding, surface density, protein isoelectric point (pI), electrostatic interactions, Zeta potential, Spectral ellipsometry, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS), White light reflectance spectroscopy (WLRS); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Elipsometria" wg kryterium: Wszystkie pola