Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "silicon layer" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-55 z 55
Tytuł:
Metodyka badania warstw epitaksjalnych krzemu za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego z zastosowaniem map linii Kikuchi = The method of study for the silicon epitaxial monolayers by means of transmission electron microscope with use of Kikuchi lines map
Metodyka badania warstw epitaksjalnych krzemu za pomocą transmisyjnego mikroskopu elektronowego z zastosowaniem map linii Kikuchi
Materiały Elektroniczne 1978 nr 2(22)
Autorzy:
Rupniewski Wojciech
Współwytwórcy:
Wójcik Marek
Data publikacji:
1979
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
TEM
Si
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
silicon epitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1976 nr 4(16)
Krzemowe warstwy epitaksjalne o grubości powyżej 20 um = Silicon epitaxial layers of thickness above 20 um
Krzemowe warstwy epitaksjalne o grubości powyżej 20 um
Autorzy:
Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
Współwytwórcy:
Lachowski Andrzej
Data publikacji:
1976
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
Si
warstwa epitaksjalna
Grubość warstwy
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
silicon epitaxial layer
layer thickness
Electronic - journal - material
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1975 nr 4(12)
Badanie jednorodności oporności krzemowych warstw epitaksjalnych = Investigations of homogenity of silicon epitaxial layers resistivity
Badanie jednorodności oporności krzemowych warstw epitaksjalnych
Autorzy:
Nowysz Karol
Współwytwórcy:
Surma Barbara
Data publikacji:
1975
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
warstwa epitaksjalna
Si
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
silicon epitaxial layer
oporność
resistivity
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1980 nr 3/4(31/32)
Przyczyny rozrzutów rezystywności krzemowych warstw epitaksjalnych w układach wielowarstwowych = The effective causes of the nanuniformity of the silicon epitaxial layers resistivity in multilayer structures
Przyczyny rozrzutów rezystywności krzemowych warstw epitaksjalnych w układach wielowarstwowych
Autorzy:
Tomaszewski Jacek
Współwytwórcy:
Korec Jacek
Brzozowski Andrzej
Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
Data publikacji:
1981
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
krzemowa warstwa epitaksjalna
silicon epitaxial layer
rezystywność
resistivity
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Krzemowe warstwy epitaksjalne do mikrofalowych diod przestrajających
Materiały Elektroniczne 1992 nr 2(78)
Krzemowe warstwy epitaksjalne do mikrofalowych diod przestrajających = Silicon epitaxial layers for microwave tunung diodes
Autorzy:
Skwarcz Jerzy
Współwytwórcy:
Nossarzewska-Orłowska, Elżbieta
Data publikacji:
1992
Wydawca:
Wydaw. Przemysłowe WEMA
Słowa kluczowe:
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Si
dioda mikrofalowa
microwave diode
warstwa epitaksjalna
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
silicon epitaxial layer
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych = The investigations of misfit dislocations creation in silicon epitaxial layers
Materiały Elektroniczne 1980 nr 2(30)
Badanie powstawania dyslokacji niedopasowania w krzemowych warstwach epitaksjalnych
Autorzy:
Mazur Krystyna
Współwytwórcy:
Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:
1981
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
misfit dislocation
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
dyslokacja niedopadowania
krzemowa kwarstwa epitaksjalna
silicon epitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Zastosowanie spektroskopii Ramana w badaniach materiałów węglowych
The use of Raman spectroscopy in examination of carbon nanomaterials
Autorzy:
Gubała, Dajana
Słowa kluczowe:
Raman spectroscopy; Carbon nanomaterials; Hybrid layers; titanium-silicon layer; Two-dimensional Raman correlation spectroscopy (2D)
Spektroskopia Ramana; Nanomateriały węglowe; Warstwy hybrydowe; Warstwa tytanowo-krzemowa; Dwuwymiarowa spektroskopia korelacyjna (2D)
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Tytuł:
Głębokie centra defektowe w krzemowych warstwach epitaksjalnych zanieczyszczonych żelazem
Głębokie centra defektowe w krzemowych warstwach epitaksjalnych zanieczyszczonych żelazem= Deep-level defects in Fe-contaminated epitaxial silicon
Materiały Elektroniczne 1995T.23 nr 1
Materiały Elektroniczne 1995 T.23 nr 1
Autorzy:
Plewa Dariusz
Współwytwórcy:
Kamiński Paweł
Kozłowski Roman
Data publikacji:
1995
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
deep-level defect
głębokie centrum defektowe
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
krzemowa warstwa epitaksjalna
silicon epitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1995 T.23 nr 1
Wpływ zanieczyszczeń metalicznych na profil sygnału EBIC w krzemowych strukturach epitaksjalnych
Materiały Elektroniczne 1995T.23 nr 1
Wpływ zanieczyszczeń metalicznych na profil sygnału EBIC w krzemowych strukturach epitaksjalnych = Influence of metalic contaminations on EBIC signal profiles in silicon epilayers
Autorzy:
Pawłowska Marta
Data publikacji:
1995
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
zanieczyszczenie metaliczne
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
krzemowa warstwa epitaksjalna
EBIC
silicon epitaxial layer
metallic contamination
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Pomiar czasu życia nośników mniejszościowych w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą sondy rtęciowej = Minority carriers generation lifetime measuring by means of mercury prote
Materiały Elektroniczne 1993 T.21 nr 1
Pomiar czasu życia nośników mniejszościowych w krzemowych warstwach epitaksjalnych za pomocą sondy rtęciowej
Autorzy:
Brzozowski Andrzej
Współwytwórcy:
Sarnecki Jerzy
Data publikacji:
1993
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
Si
warstwa epitaksjalna
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
czas życia nośników
silicon epitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
minority carriers lifetime
Electronic - journal - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Wpływ obecności Fe i Ni na własności krzemowych warstw epitaksjalnych = Influence of Ni and Fe on silicon epitaxial layers properties
Wpływ obecności Fe i Ni na własności krzemowych warstw epitaksjalnych
Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 2
Autorzy:
Nossarzewska-Orłowska, Elżbieta
Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
Współwytwórcy:
Skwarcz Jerzy
Sarnecki Jerzy
Wodzińska Halina
Data publikacji:
1994
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
transition metal
własności elektryczne
dielectric properties
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
krzemowa warstwa epitaksjalna
metal przejściowy
silicon epitaxial layer
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Electronic Materials Vol. 42 Nr 1
Metoda otrzymywania monokrystalicznych folii krzemowych z wykorzystaniem krzemu porowatego
Materiały Elektroniczne. T. 42 Nr 1
Metoda otrzymywania monokrystalicznych folii krzemowych z wykorzystaniem krzemu porowatego = A method of obtaining monocrystalline silicon foils using porous silicon
Autorzy:
Sarnecki Jerzy
Współwytwórcy:
Lipiński Dariusz
Brzozowski Andrzej
Data publikacji:
2014
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
warstwa epitaksjalna
epitaxial layer
krzem porowaty
folia krzemowa
CVD
silicon foil
porous silicon
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Metoda otrzymywania monokrystalicznych folii krzemowych z wykorzystaniem krzemu porowatego
A method of obtaining monocrystalline silicon foils using porous silicon
Autorzy:
Sarnecki, J.
Brzozowski, A.
Lipiński, D.
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
warstwa epitaksjalna
krzem porowaty
CVD
folia krzemowa
epitaxial layer
porous silicon
silicon foil
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Morphology of an ITO recombination layer deposited on a silicon wire texture for potential silicon/perovskite tandem solar cell applications
Autorzy:
Kulesza-Matlak, Grazyna
Szindler, Marek
Szindler, Magdalena M.
Sypien, Anna
Major, Lukasz
Drabczyk, Kazimierz
Data publikacji:
2023
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Tematy:
tandem solar cell
silicon nanowires
MAE etching
ITO
recombination layer
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Deposition of SnO2 as a functional layer on a porous silicon substrate for potential tandem solar cell application
Autorzy:
Kulesza-Matlak, Grażyna
Szindler, Marek
Szindler, Magdalena M.
Sypien, Anna
Major, Lukasz
Drabczyk, Kazimierz
Data publikacji:
2025
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
Tematy:
tandem solar cell
ALD
SnO2
recombination layer
silicon nanowires
MAE etching
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Krzemowe warstwy epitaksjalne do zastosowań fotowoltaicznych osadzane na krzemie porowatym
Silicon epitaxial layers deposited on porous silicon for photovoltaic applications
Autorzy:
Lipiński, D.
Sarnecki, J.
Brzozowski, A.
Mazur, K.
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
warstwa epitaksjalna
CVD
krzem porowaty
ogniwo słoneczne
epitaxial layer
porous silicon
solar cell
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The analisys of the influence of cooling rate during laser alloying with silicon nitride on surface layer state of cast iron machine parts
Analiza wpływu prędkości chłodzenia podczas stopowania laserowego azotkiem krzemu na stan warstwy wierzchniej żeliwnych elementów maszyn
Autorzy:
Paczkowska, M.
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Maszyn Rolniczych
Tematy:
laser alloying
silicon nitride
cast iron
surface layer
stopowanie laserowe
azotek krzemu
żeliwo
warstwa wierzchnia
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wysokorezystywne wzorce do pomiaru profilu rezystywności krzemowych warstw epitaksjalnych metodą oporności rozpływu w styku punktowym
High resistivity standards for measurement of resistivity profile in silicon epitaxial layers by spreading resistance method
Autorzy:
Brzozowski, A.
Sarnecki, J.
Lipiński, D.
Wodzińska, H.
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
rezystywność
oporność rozpływu
krzem monokrystaliczny
warstwa epitaksjalna
resistivity
spreading resistance
monocrystalline silicon
epitaxial layer
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1979 nr 1(25)
Badanie powierzchniowej warstwy uszkodzonej na płytkach monokrystalicznych krzemu
Badanie powierzchniowej warstwy uszkodzonej na płytkach monokrystalicznych krzemu = Investigation of the damaged surface layer on monocrystalline silicon wafers
Autorzy:
Łazowy Barbara
Data publikacji:
1980
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - journal - materials
dameged layer
warstwa uszkodzona
silicon wafer
płytka krzemowa
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Krzemowe warstwy homoepitaksjalne
Prace ONPMP 1978 z. 6
Krzemowe warstwy homoepitaksjalne = Homoepitaxial silicon layers
Proceedings of ONPMP 1978 z. 6
Autorzy:
Korec Jacek
Współwytwórcy:
Rupniewski Wojciech
Wójcik Marek
Data publikacji:
1978
Wydawca:
Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:
silicon epitaxy
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
homoepitaxial layer
Electronic materials
warstwa homoepitaksjalna
epitaksja krzemu
Electronic - journal - material
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Efektywne wartości współczynnika dyfuzji dla modelu domieszkowania dyfuzyjnego warstwy emiterowej ogniwa słonecznego
Autorzy:
Filipowski, W.
Waczyński, K.
Wróbel, E.
Skwarek, A.
Drabczyk, K.
Data publikacji:
2011
Słowa kluczowe:
ogniwo słoneczne
struktura fotowoltaiczna
warstwa emiterowa
domieszkowanie krzemu
symulacja komputerowa
solar cell
photovoltaic structure
emitter layer
silicon doping
computer simulation
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Krzemowe warstwy epitaksjalne do zastosowań fotowoltaicznych osadzane na krzemie porowatym = Silicon epitaxial deposited porous silicon for photovoltaic applications
Krzemowe warstwy epitaksjalne do zastosowań fotowoltaicznych osadzane na krzemie porowatym
Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 3
Autorzy:
Lipiński Dariusz
Współwytwórcy:
Brzozowski Andrzej
Sarnecki Jerzy
Mazur Krystyna
Data publikacji:
2012
Wydawca:
ITME
Słowa kluczowe:
solar cell
warstwa epitaksjalna
Elektronika - czasopismo - materiały
epitaxial layer
krzem porowaty
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
ogniwo słoneczne
CVD
porous silicon
Electronic - journal - material
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Quality control test of conventional X-Ray systems in Delta State, South-South, Nigeria
Autorzy:
Ijabor, B. O.
Nzotta, C. C.
Omojola, A. D.
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
Tematy:
Digital Radiography (DR)
Focus to Image Distance (FID)
Half Value Layer (HVL)
Practical Peak Voltage (PPV)
Quality Assurance
Quality Control
Silicon Photodiode
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Struktura i własności warstw Al₂O₃ osadzonych metodą ALD na krzemowych ogniwach fotowoltaicznych
Autorzy:
Szindler, M.
Data publikacji:
2018
Słowa kluczowe:
osadzanie warstw atomowych
warstwy antyrefleksyjne
krzemowe ogniwo fotowoltaiczne
własności optyczne
charakterystyka prądowo-napięciowa
atomic layer deposition
antireflection coatings
silicon solar cells
optical properties
current-voltage characteristics
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Lekkie materiały kompozytowe na osnowie proszku aluminium umocnione cząstkami węglika krzemu otrzymane przez kucie matrycowe i wyciskanie
Autorzy:
Szczepanik, S.
Data publikacji:
2013
Słowa kluczowe:
metalurgia proszków
kompozyt
materiał dwuwarstwowy
proszek aluminium
cząstki węglika krzemu
kucie matrycowe
wytrzymałość na zginanie
powder metallurgy
composite
two-layer material
aluminum powder
silicon carbide particles
closed-die forging
extrusion, drawing
bend test
compression test
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-55 z 55

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies