Wszystkie pola: mikroskopia sil atomowych

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Roble
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Atomic force microscope
Autorzy:: Sarna, Michał
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Wydział Biochemii, Biofizyki i Biotechnologii Uniwersytetu Jagiellońskiego
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych z zastosowaniem matryc mikrodźwigni sprężystych
Współwytwórcy:: Kopiec, Daniel
Zawierucha, Paweł
Zielony, Michał
Gotszalk, Teodor Paweł
Woszczyna, Mirosław
Data publikacji:: 2010
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych z zastosowaniem matryc mikrodźwigni sprężystych
Autorzy:: Zawierucha, P.
Zielony, M.
Kopiec, D.
Woszczyna, M.
Sarov, Y.
Frank, A.
Ivanov, T.
Zöllner, J. P.
Rangelow, I. W.
Gotszalk, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
matryca dźwigni
topografia
atomic force microscopy (AFM)
cantilever array
topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych - nowa jakość pomiarów
Atomic force microscopy - new quality of measurements
Autorzy:: Rozniatowski K.
Rebis J. A.
Tematy:: mikroskopia sil atomowych
nanostruktury
pomiary
sonary skanujace
modyfikacja
dokladnosc pomiaru
mikroskop sil atomowych
mikroskop Veeco; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych "Shear force" z interferencyjną detekcją ostrza skanującego
Autorzy:: Sikora, A.
Sankowska, A.
Gotszalk, T. P.
Radojewski, J.
Szeloch, R. F.
Data publikacji:: 2002
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych powierzchni metali modyfikowanych wiązką jonów.
Atomic force microscopy of ion beam-modified metal surfaces
Autorzy:: Fitas, Jakub
Słowa kluczowe:: AFM, ion bombardment, surface ripples
zmarszczki, powierzchnia, bombardowanie jonowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Atomic force microscopy in evaluation of wood coating systems
Mikroskopia sił atomowych w ocenie systemów powłokowych do drewna
Autorzy:: Lagana, R.
Kudela, J.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie. Wydawnictwo Szkoły Głównej Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Skaningowa mikroskopia tunelowa (STM) i mikroskopia sił atomowych (AFM) i ich zastosowanie w badaniach korozji
Autorzy:: Flis, J.
Data publikacji:: 1998
Słowa kluczowe:: ochrona przed korozją
mikroskop skaningowy
corrosion protection
scanning electron microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: Atomic force microscopy in evaluation of wood coating systems
Mikroskopia sił atomowych w ocenie systemów powłokowych do drewna
Autorzy:: Lagana R.
Kudela J.
Tematy:: wood coating
coating system
microscopic method
atomic force microscopy
micrometric level
nanometric level
wood surface
wood property
surface property
surface deformation
surface roughness
elasticity modulus
adhesion force
lacquer; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych - zasada działania i przykładowe zastosowania
Ato mic force microscopy - Principles of atomic force microscopy and its application in
Autorzy:: Lasota, Małgorzata
Raczkowska, Joanna
Szydlak, Renata
Data publikacji:: 2017
Wydawca:: Młodzi Naukowcy
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Badania wyrobów z tworzyw sztucznych za pomocą mikroskopii sił atomowych na przykładzie polisiarczku fenylenu
Autorzy:: Jurga, J.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: tworzywa sztuczne
mikroskopia sił atomowych
polisiarczek fenylenu; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń
Autorzy:: Woszczyna, M.
Masalska, A.
Kolanek, K.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
rezonator piezoelektryczny
AFM
tuning fork; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych jako narzędzie do oceny jakości powierzchni soczewek kontaktowych
Autorzy:: Tomaszewska, A.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: soczewki kontaktowe
AFM
komfort
bezpieczeństwo
contact lenses
comfort
safety; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Charakteryzacja wiązania w układzie białko-lek metodą spektroskopii sił atomowych: wstępne wyniki.
Characterization of a protein-drug bond by means of atomic force spectroscopy: preliminary results
Autorzy:: Szczerbiński, Jacek
Słowa kluczowe:: -
oddziaływanie białko-lek, DL76, albumina, mikroskopia sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Autorzy:: Ziębowicz, B.
Staszuk, M.
Jarka, P.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
analiza powierzchni
atomic force microscopy
surface analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Makroskopowy model mikroskopu sił atomowych w zaawansowanej pracowni fizycznej
Autorzy:: Greczyło, T.
Dębowska, E.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
pracownia fizyczna
atomic force microscopy (AFM)
physics laboratory; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Zmiany mikrostruktury w n-Si (111) podczas elektrochemicznego trawienia w warunkach braku iluminacji i w potencjale obwodu otwartego
Autorzy:: Jakubowicz, J.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: krzem
obróbka elektrochemiczna
mikrostruktura
mikroskopia sił atomowych
trawienie elektrochemiczne
morfologia powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Atomic force microscope studies of mesporous silica
Autorzy:: Piwoński, I.
Płaza, S.
Grobelny, J.
Jones, D. J.
Roziere, J.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: topografia powierzchni
tarcie
smarowanie
AFM
surface topography
friction
lubrication; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 21.

Tytuł:: The new measurement technics in biology and medicine : atomic force microscopy (part II)
Nowe techniki pomiarowe w biologii i medycynie : mikroskopia sił atomowych (część II)
Autorzy:: Rumian, Roman
Pietrzyk, Jacek
Krawentek, Lidia
Miklaszewska, Monika
Szymoński, Marek
Sułowicz, Władysław
Targosz-Korecka, Marta
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: immunologia
genetyka
spektroskopia siły
microbiology
nanostruktura
nanostructure
immunology
mikroskopia sił atomowych
atomie force microscopy
mikrobiologia
force spectroscopy
genetics; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 22.

Tytuł:: Modularny mikroskop tunelowy i sił atomowych do badań własności elektrycznych nanostruktur
Autorzy:: Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Radojewski, J.
Sankowska, A.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
diagnostyka powierzchni
shear force microscopy
current emission; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 23.

Tytuł:: Nowe techniki pomiarowe w biologii i medycynie : mikroskopia sił atomowych (część III)
The new measurement technics in biology and medicine : atomic force microscopy (part III)
Autorzy:: Rumian, Roman
Pietrzyk, Jacek
Krawentek, Lidia
Miklaszewska, Monika
Szymoński, Marek
Sułowicz, Władysław
Targosz-Korecka, Marta
Korohoda, Przemysław
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: dialysers membranes
nanoskopia
pharmacy
nanoscopy
mikroskop sil atomowych
biomaterials
adsorpcja białek
błony dializacyjne
biotworzywa
protein adsorption
atomic force microscopy
farmacja; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 24.

Tytuł:: Nowe techniki pomiarowe w biologii i medycynie : mikroskopia sił atomowych (część I)
The new measurement technics in biology and medicine : atomic force microscopy (part I)
Autorzy:: Rumian, Roman
Pietrzyk, Jacek
Krawentek, Lidia
Miklaszewska, Monika
Szymoński, Marek
Sułowicz, Władysław
Targosz-Korecka, Marta
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: biology
nanostruktura w medycynie
biologii
nanoscale measurements
pharmacology
pomiar w skali nanometrów
biotechnology
atomie force microscopy
biotechnologii
farmakologii
nanostructure in medicine
mikroskop sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 25.

Tytuł:: A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 26.

Tytuł:: Ocena parametrów metrologicznych mikromechanicznych dźwigni piezorezystywnych
Autorzy:: Woszczyna, M.
Janus, P.
Grabiec, P.
Kolek, A.
Gotszalk, T.
Rangelow, I. W.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: dźwignia piezorezystywna
mikroskopia sił atomowych
nanotechnologia
piezoresistive cantilever
atomic force microscopy (AFM)
nanotechnology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 27.

Tytuł:: Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w ocenie stopnia anizotropii mikrostruktury
Autorzy:: Bramowicz, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: mikroskopia sond skanujących (SPM)
mikroskopia sił atomowych
metodyka określania stopnia anizotropii
normalizacja powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 28.

Tytuł:: A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 29.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych jako narzędzie do oceny jakości powierzchni soczewek kontaktowych
Atom force microscopy as a tool for the evaluation of the quality of contact lenses surface
Autorzy:: Tomaszewska, A.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Uniwersytet Humanistyczno-Przyrodniczy im. Jana Długosza w Częstochowie. Wydawnictwo Uczelniane
Tematy:: soczewki kontaktowe
AFM
komfort
bezpieczeństwo
contact lenses
comfort
safety; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 30.

Tytuł:: Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
Autorzy:: Zembrzycki, K.
Pawłowska, S.
Nakielski, P.
Pierini, F.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: optical tweezers
atomic force microscopy (AFM)
AFM/OT
mikroskopia sił atomowych
szczypce optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 31.

Tytuł:: Integrated thermal probe for SThM investigation of micro- and nanoelectronic devices
Autorzy:: Janus, P.
Szmigiel, D.
Wielgoszewski, G.
Weisheit, M.
Ritz, Y.
Grabiec, P.
Hecker, M.
Gotszalk, T.
Sulecki, P.
Zschech, E.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
skanująca sonda termiczna
atomic force microscopy (AFM)
Scanning Thermal Probe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 32.

Tytuł:: Proby zastosowania skaningowej mikroskopii tunelowej i mikroskopii sil atomowych do badania porowatych materialow weglowych
Autorzy:: Babel K.
Czajka R.
Gordon W.
Tematy:: materialy weglowe
mikroskopia sil atomowych
metody badan
wlokna weglowe aktywne
mikroskopia skaningowa tunelowa
folie weglowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 33.

Tytuł:: Mikroskopia bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych
Autorzy:: Sikora, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
badanie materiałów
badanie struktury
atomic force microscopy (AFM)
materials testing
structure examination; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 34.

Tytuł:: Applications of scanning probe microscopy for studying of interfacial thermodynamics and kinetics
Autorzy:: Rabkin, E.
Amouyal, Y.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: dyfuzja na migrujących granicach ziaren
mikroskopia sił atomowych
diffusion along moving grain boundaries
scanning microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 35.

Tytuł:: Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
Autorzy:: Zembrzycki, K.
Pawłowska, S.
Nakielski, P.
Pierini, F.
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
Tematy:: optical tweezers
atomic force microscopy (AFM)
AFM/OT
mikroskopia sił atomowych
szczypce optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 36.

Tytuł:: Zastosowanie mikroskopu sił atomowych w badaniach materiałów stomatologicznych
Autorzy:: Ziębowicz, Bogusław
Ziębowicz, Anna
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: materiały stomatologiczne
topografia implantów stomatologicznych
mikroskopia sił atomowych
dental materials
dental implants topography
atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 37.

Tytuł:: Ocena własności biomechanicznych DNA origami
Assessment of biomechanical properies of DNA origami
Autorzy:: Adamiak, Martyna
Słowa kluczowe:: Nanomedicine, DNA origami, Biomechanics, Atomic Force Microscopy
Nanomedycyna, DNA origami, Biomechanika, Mikroskopia Sił Atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 38.

Tytuł:: Zastosowanie mikroskopii sił atomowych i magnetycznego rezonansu jądrowego w technologii wytwarzania kompozytów polimerowych
Autorzy:: Jurga, J.
Bula, K.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
magnetyczny rezonans jądrowy
kompozyty polimerowe
atomic force microscopy (AFM)
NMR spectroscopy
composite; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 39.

Tytuł:: Nanomiernictwo mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
Autorzy:: Gotszalk, T.
Radojewski, J.
Szeloch, R.
Marendziak, A.
Kolanek, K.
Woszczyna, M.
Masalska, A.
Grabiec, P.
Janus, P.
Rangelow, I.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia bliskich oddziaływań
mikroskopia sił atomowych
nanomiernictwo
scanning probe microscopy
atomic force microscopy (AFM)
nanometrology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 40.

Tytuł:: Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach nad formowaniem powierzchni krzemowych ogniw słonecznych
Autorzy:: Waczyński, K.
Filipowski, W.
Panek, P.
Drabczyk, K.
Olechowska, A.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
krzem porowaty
teksturyzacja krzemu
struktury fotowoltaiczne
silicon surface
photovoltaic structure
solar cell
AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 41.

Tytuł:: Comparison of the structure and topography of selected low friction thin films
Autorzy:: Paradecka, A.
Lukaszkowicz, K.
Kříž, A.
Potempa, R.
Data publikacji:: 2017
Słowa kluczowe:: low friction thin films
DLC
TiC
AFM
Raman spectroscopy
structure
mikroskopia sił atomowych
spektroskopia ramanowska
struktura; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 42.

Tytuł:: Evaluation of changes in mouse aortic morphology by microscopic methods
Ocena zmian morfologii aorty mysiej metodami mikroskopowymi
Autorzy:: Trubas, Aleksandra
Słowa kluczowe:: mice aorta, scanning electron microscopy, atomic force microscopy, fluorescence microscopy
aorta mysia, skaningowa mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych, mikroskopia fluorescencyjna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 43.

Tytuł:: Microstructured biodegradable polymer layers
Mikrostrukturyzowane polimerowe powierzchnie biodegrodowalne
Autorzy:: Szydlak, Renata
Słowa kluczowe:: biodegradable polymers, contact angle, atomic force microscopy AFM
polimery biodegradowalne, kąt zwilżania, mikroskopia sił atomowych AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 44.

Tytuł:: Assessment of the possibilities of using atomic force microscopy (AFM) for characterisation of polymeric nanofiltration membrane surfaces
Autorzy:: Kowalik-Klimczak, A.
Gierycz, P.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy (AFM)
nanofiltration
polymeric membranes
surface roughness
mikroskopia sił atomowych
nanofiltracja
membrany polimerowe
chropowatość powierzchni; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 45.

Tytuł:: System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
techniki pomiarowe
przetwarzanie sygnałów
atomic force microscopy (AFM)
measurement techniques
signal processing
harmonic analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 46.

Tytuł:: Mikroskopowa i spektroskopowa charakteryzacja skoniugowanych szczotek polimerowych szczepionych z powierzchni
Microscopic and spectroscopic characterizations of conjugated surface-grafted polymer brushes
Autorzy:: Fiocco, Alice
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy, ellipsometry, polymer brushes, SI-ATRP
mikroskopia sil atomowych, elipsometria, szczotki polimerowe, SI-ATRP; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 47.

Tytuł:: Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images
Autorzy:: Weszka, J.
Szindler, M.
Śliwa, A.
Hajduk, B.
Jurusik, J.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
skaningowy mikroskop elektronowy
oprogramowanie WSxM
atomic force microscope
scanning electron microscope
WSxM software; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 48.

Tytuł:: Metody charakteryzacji grafenu wykorzystywanego w sensorowych układach rezystancyjnych
Autorzy:: Drewniak, S.
Pustelny, T.
Strupiński, W.
Pasternak, I.
Opilski, Z.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: grafen
sensory gazowe
Mikroskopia Sił Atomowych
spektroskopia ramanowska
graphene
gas sensors
atomic force microscopy (AFM)
Raman spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 49.

Tytuł:: Charakterystyka nanostrukturalna materiału genetycznego do zastosowania w terapii genowej
Autorzy:: Duda, M.
Frączkowska, K.
Przybyło, M.
Kopaczyńska, M.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: kondensacja DNA
spermidyna
terapia genowa
mikroskopia sił atomowych
DNA condensation
spermidine
gene therapy
atomic force microscopy (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 50.

Tytuł:: Estimation of shape of AFM tip with “Cross-Forrest” calibration standard
Autorzy:: Jóźwiak, G.
Moczała-Dusanowska, M.
Gajewski, K.
Sierakowski, A.
Wójcicki, P.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy
blind tip reconstruction
calibration standard
mikroskopia sił atomowych
ślepa rekonstrukcja
kształt ostrza
struktura kalibracyjna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Wszystkie pola